[发明专利]光学偏振滤光器

说明书

一种光学滤光器，其可以包括基底。光学滤光器可以包括设置到基底上的一组交替的高折射率层和低折射率层，以偏振分束入射光。所述一组交替的高折射率层和低折射率层可以设置成使得具有小于大约800纳米(nm)的光谱范围的入射光的第一偏振被所述光学滤光器反射，并且具有大于大约800nm的光谱范围的入射光的第二偏振通过光学滤光器而通过。高折射率层可以是氢化硅(Si：H)。低折射率层可以是二氧化硅(SiO₂)。

技术领域

本申请涉及光学滤光器，更具体地涉及光学偏振滤光器。

背景技术

在一些情况下，可能期望阻挡某些波长的能量和/或仅将某些波长的能量传输到检测器。例如，一些检测器可能对某些波长的能量敏感。在一个示例中，光学发射器可以发射最终由光学接收器接收的光。例如，在手势识别系统中，光学发射器可以向用户发射近红外(NIR)光，并且NIR光可以从用户反射向光学接收器。在这种情况下，光学接收器可以捕获关于NIR光的信息，并且该信息可以被用于识别用户正在执行的手势。例如，装置可以使用该信息来生成用户的三维表示，并且基于该三维表示来识别用户正在执行的手势。然而，在向用户传输NIR光期间和/或在从用户向光学接收器反射期间，环境光可能干扰NIR光。因此，光学接收器可以光学耦合到诸如带通滤光器之类的光学滤光器，以对环境光进行滤波并且使得NIR光朝向光学接收器通过。

在一些情况下，光学滤光器可以包括偏振分束器。通常，偏振分束器将入射能量束物理地分离成两个线偏振子束(“P”和“S”)。一个“子束”包含“P”偏振能量(例如，电场平行于入射束的入射平面或在入射束的入射平面内)。第二个“子束”包含“S”偏振能量(例如，电场垂直于入射束的入射平面)。

发明内容

根据一些可行的实施方式，偏振光学涂层可以包括一组层。所述一组层可以包括第一子集层。第一子集层可以包括具有第一折射率的氢化硅(Si:H)。该组层可以包括第二子集层。第二子集层可以包括具有第二折射率的材料。第二折射率可以小于第一折射率。

根据一些可行的实施方式，光学滤光器可以包括基底。光学滤光器可以包括设置到基底上的一组交替的高折射率层和低折射率层，以对入射光进行偏振分束。所述一组交替的高折射率层和低折射率层可以设置成使得具有小于大约800纳米(nm)的光谱范围的入射光的第一偏振被所述光学滤光器反射，并且具有大于大约800nm的光谱范围的入射光的第二偏振通过光学滤光器而通过。高折射率层可以是氢化硅(Si:H)。低折射率层可以是二氧化硅(SiO₂)。

根据一些可行的实施方式，光学系统可以包括用以发射近红外(NIR)光的光学发射器。光学系统可以包括偏振光学滤光器，以对输入光学信号进行滤波并提供经滤波的输入光学信号。输入光信号可以包括来自光学发射器的NIR光和来自另一光源的环境光。偏振光学滤光器可以包括一组电介质薄膜层。该组电介质薄膜层可以包括第一子集氢化硅层，氢化硅具有第一折射率。该组电介质薄膜层可以包括第二子集材料层，该材料具有小于第一折射率的第二折射率。经滤波的输入光学信号可以包括相对于输入光学信号减小的环境光强度。光学接收器可以接收经滤波的输入光信号并提供输出电信号。

本申请提供了如下内容：

1)一种偏振光学涂层，包括：

一组层，包括：

第一子集层，

所述第一子集层包括具有第一折射率的氢化硅(Si:H)；和第二子集层，

所述第二子集层包括具有第二折射率的材料，

所述第二折射率小于所述第一折射率。

2)根据项1)所述的偏振光学涂层，其中，所述材料包括以下中的至少一种：

二氧化硅(SiO₂)材料，