[发明专利]一种用于波束失败检测的方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201810150836.8 申请日: 2018-02-13
公开(公告)号: CN110167055B 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 管鹏;陈雷 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H04W24/08 分类号: H04W24/08;H04B7/06
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 李欣
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 波束 失败 检测 方法 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种用于波束失败检测的方法,其特征在于,所述方法包括:

获取至少一个波束检测信号的周期T和波束失败宣告对应的连续的波束失败实例的个数N;其中,所述波束检测信号通过波束发送,一个所述波束失败实例为在至少一个波束检测区间内对所述至少一个波束检测信号中各波束检测信号的检测结果未满足预定条件;

根据获取的所述T和N,确定所述波束检测区间的长度;

所述方法还包括:获取调节量信息k;

所述根据获取的所述T和N,确定所述波束检测区间的长度,包括:

根据所述T、N和k,确定所述波束检测区间的长度。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述至少一个波束检测信号的周期T,包括:所述至少一个波束检测信号中周期最短的波束检测信号的周期Tshort和/或所述至少一个波束检测信号中周期最长的波束检测信号的周期Tlong

所述根据获取的所述T和N,确定所述波束检测区间的长度,包括:

根据所述Tshort和/或所述Tlong,以及所述N,确定所述波束检测区间的长度。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,

确定的所述波束检测区间的长度包括以下之一:

Tlong/N、max{Tshort,Tlong/N}、max{max{Tshort,Tlong/N},T’}、min{Tlong,Tshort×N}、

其中,T’为预定的时长值,符号max{}表示取最大值,min{}表示取最小值,符号表示向上取整。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述至少一个波束检测信号的周期T,包括:所述至少一个波束检测信号中周期最短的波束检测信号的周期Tshort和/或所述至少一个波束检测信号中周期最长的波束检测信号的周期Tlong

确定的所述波束检测区间的长度包括以下之一:

k×Tlong/N、max{Tshort,k×Tlong/N}、max{max{Tshort,k×Tlong/N},T’}、min{Tlong,Tshort×N×k}、

其中,T’为预定的时长值,符号max{}表示取最大值,min{}表示取最小值,符号表示向上取整。

5.一种用于波束失败检测的方法,其特征在于,所述方法包括:

生成调节量信息k,所述调节量信息k用于终端设备调节波束检测区间的长度;

向终端设备发送所述调节量信息k;

其中,所述波束检测区间的长度,还基于至少一个波束检测信号的周期T、波束失败宣告对应的连续的波束失败实例的个数N和所述调节量信息k来确定,所述波束检测信号通过波束发送,一个所述波束失败实例为在至少一个波束检测区间内对所述至少一个波束检测信号中各波束检测信号的检测结果未满足预定条件。

6.一种用于波束失败检测的装置,其特征在于,所述装置包括:

处理单元,用于获取至少一个波束检测信号的周期T和波束失败宣告对应的连续的波束失败实例的个数N,根据获取的所述T和N,确定所述波束检测区间的长度;

其中,所述波束检测信号通过波束发送,一个所述波束失败实例为在至少一个波束检测区间内对所述至少一个波束检测信号中各波束检测信号的检测结果未满足预定条件;

所述装置还包括:获取调节量信息k;

所述根据获取的所述T和N,确定所述波束检测区间的长度,包括:

根据所述T、N和k,确定所述波束检测区间的长度。

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