[发明专利]用于鉴定分子种类的元素组成的方法

权利要求书

1.一种鉴定样品中所含或通过至少一种电离方法从样品中产生分子M的至少一个种类的一种或多种最可能元素组成的方法，包含以下步骤：

(i)使用质谱仪测量所述样品的质谱I_meas(p)，或使用质谱仪测量所述样品的质谱I_meas(p)且将所测得质谱I_meas(p)换算为中性质谱I_neut(p)；

(ii)针对所测得质谱I_meas(p)或中性质谱I_neut(p)中的所关注峰C_int，从分子种类M_inv的集合S_inv中确定候选分子种类M_cand的集合S_cand，所述候选分子种类M_cand在对应于所测得质谱I_meas(p)或所述中性质谱I_neut(p)的质谱中具有预期峰C_ex,inv，其峰位置p_ex,inv处于指配给对应的所测得质谱I_meas(p)或中性质谱I_neut(p)中的所述所关注峰C_int的峰位置容许范围Δp_tol内；

(iii)针对所述候选分子种类M_cand集合S_cand中的每个候选分子种类M_cand，测定对应于所测得质谱I_meas(p)或所述中性质谱I_neut(p)的鉴定质谱I_{id,M_cand}(p)且测定峰位置范围Δp，所述峰位置范围Δp包含与所述候选分子种类M_cand集合S_cand中的所有候选分子种类M_cand的所测得质谱I_meas(p)或所述中性质谱I_neut(p)对应的所述鉴定质谱I_{id,M_cand}(p)的所有峰C_{id,M_cand,i}的峰位置p_{id,M_cand,i}；

(iv)利用测定每个候选分子种类M_cand的第一子分数s_{1,M_cand}的第一方法，且利用测定每个候选分子种类M_cand的第二子分数s_{2,M_cand}的第二方法，在所测定的所述峰位置范围Δp内对所述候选分子种类M_cand集合S_cand中的所述候选分子种类M_cand的所测得质谱I_meas(p)或所述中性质谱I_neut(p)与对应于所测得质谱I_meas(p)或所述中性质谱I_neut(p)的每个鉴定质谱I_{id,M_cand}(p)进行比较，其中所述第一子分数s_{1,M_cand}为所述候选分子种类M_cand的所述鉴定质谱I_{id,M_cand}(p)中的在所测得质谱I_meas(p)或中性质谱I_neut(p)未得到鉴定的所有峰C_{id,M_cand,i}定址，且其中所述第二子分数s_{2,M_cand}为所测得质谱I_meas(p)中的所有峰C_meas,i或所述中性质谱I_neut(p)中的所有峰C_neut,I定址，所述峰C_meas,i和C_neut,i在所述候选分子种类M_cand的所述鉴定质谱I_{id,M_cand}(p)中未得到鉴定；且依据所述子分数s_{i,M_cand}计算所述候选分子种类M_cand集合S_cand中的每个候选分子种类M_cand的最终分数fs_{M_cand}或依据所述子分数s_{i,M_cand}仅计算所述候选分子种类M_cand集合S_cand中、所述第一方法的所述子分数s_{1,M_cand}和所述第二方法的所述子分数s_{2,M_cand}中的一个或两个高于所指配的阈值s_i,th,fs以便计算最终分数fs_{M_cand}的所有候选分子种类M_cand的最终分数fs_{M_cand}；

(v)测定具有最高值的一个或多个所计算最终分数fs_高,k；

(vi)测定所述候选分子种类M_cand集合S_cand中的所述候选分子种类M_{cand,高_k}的元素组成，所述候选分子种类M_{cand,高_k}具有所述一个或多个有最高值的所计算最终分数fs_高,k。