[发明专利]靶面取像装置的校正方法有效
申请号: | 201810154106.5 | 申请日: | 2018-02-22 |
公开(公告)号: | CN108364317B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 刘晋玮;邓文治 | 申请(专利权)人: | 奈特视讯科技股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/73 | 分类号: | G06T7/73;G06T7/80 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨;侯奇慧 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 靶面取像 装置 校正 方法 | ||
1.一种靶面取像装置的校正方法,其对一靶面外侧的至少两个取像装置分别进行校正,且该靶面上具有多个已知真实空间坐标,其特征在于,该校正方法包括下列步骤:
通过该取像装置取得该靶面对应的目标影像;
利用旋转、平移调整该目标影像对应参考基准,以获得该目标影像与该靶面的对应关系,接着取得位于该目标影像上方的一感兴趣区域;以及
利用至少一定位标记物插设在该靶面的至少两个该已知真实空间坐标的位置上,并通过该取像装置取得该定位标记物对应位于该感兴趣区域内的至少两个影像坐标,进而利用至少两个该已知真实空间坐标与该至少两个影像坐标来推算出该取像装置的确定位置。
2.如权利要求1所述的靶面取像装置的校正方法,其特征在于,该取像装置为摄影机。
3.如权利要求1所述的靶面取像装置的校正方法,其特征在于,该参考基准为一参考基线或是至少两个参考基准点。
4.如权利要求3所述的靶面取像装置的校正方法,其特征在于,在利用旋转、平移调整该目标影像对应该参考基准的步骤中,调整该参考基线的水平位置与角度,使该参考基线对应该目标影像的上缘,以获得该目标影像与该靶面的对应关系,定义出该感兴趣区域。
5.如权利要求3所述的靶面取像装置的校正方法,其特征在于,在利用旋转、平移调整该目标影像对应该参考基准的步骤中,调整该目标影像的水平位置与角度,使该目标影像的上缘对应该参考基线,以获得该目标影像与该靶面的对应关系,定义出该感兴趣区域。
6.如权利要求3所述的靶面取像装置的校正方法,其特征在于,利用旋转、平移调整该目标影像对应该参考基准的步骤中,调整该目标影像的坐标系,以在其上方选择该至少两个参考基准点,以获得该目标影像与该靶面的对应关系,定义出该感兴趣区域。
7.如权利要求1所述的靶面取像装置的校正方法,其特征在于,该至少一定位标记物依序插设在该靶面的至少两个该已知真实空间坐标的位置上,以依序取得该影像坐标。
8.如权利要求1所述的靶面取像装置的校正方法,其特征在于,该至少一定位标记物为两个以上时,同时将多个定位标记物插设在该靶面上不同位置的该已知真实空间坐标的位置上,以同时对应取得两个以上的该影像坐标。
9.如权利要求1所述的靶面取像装置的校正方法,其特征在于,该靶面为射箭靶面或是飞镖靶面。
10.如权利要求9所述的靶面取像装置的校正方法,其特征在于,该飞镖靶面为硬式飞镖靶面或是软式飞镖靶面。
11.如权利要求1所述的靶面取像装置的校正方法,其特征在于,该定位标记物已事先固定插设在该靶面上,以供该取像装置进行校正。
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