[发明专利]性能评估装置及性能评估方法

说明书

一种性能评估装置及性能评估方法。所述性能评估方法包括：检测存储器控制器的多个存取命令是否发生页错失，以从存取命令中识别至少一个页错失命令；计算所述至少一个页错失命令与先前冲突命令之间的距离作为冲突命令间距，其中所述先前冲突命令与所述页错失命令相冲突；以及依据所述冲突命令间距来评估存储器控制器的性能。

技术领域

本发明是关于一种评估方法，特别是关于一种存储器控制器的性能评估装置与性能评估方法。

背景技术

一般而言，存储器的带宽(bandwidth)利用率可以做为评估一个存储器控制器的性能高低的判断依据。在大部分的情况下，存储器控制器的存取命令发生页命中(pagehit)的比例越高，通常代表着较高的带宽利用率，也就是存储器控制器具有较佳的性能。因此，熟知的测试方式通常会以存取命令的页命中率来推测存储器的带宽利用情形，以便判断存储器控制器的性能高低。

然而，在某些情况下，存取命令发生页命中的比例虽然很高，但是存储器的带宽利用率却反而降低。也就是说，熟知的测试方式使用页命中率来评估存储器控制器的性能，但是页命中率无法总是正确反映出存储器的带宽利用状态。

因此，有必要提供一种存储器控制器的性能评估方法，以解决存储器控制器的性能无法被准确评估的问题。

发明内容

本发明提供一种性能评估装置及性能评估方法，可准确地评估存储器控制器的性能。

本发明的实施例提供一种存储器控制器的性能评估方法。所述性能评估方法包括：检测存储器控制器的多个存取命令是否发生页错失(page miss)，以从存取命令中识别出至少一个页错失命令；计算至少一个页错失命令与先前冲突命令之间的距离作为冲突命令间距，其中先前冲突命令与页错失命令相冲突；以及依据冲突命令间距来评估存储器控制器的性能。

本发明的实施例提供一种性能评估装置。所述性能评估装置包括检测模块以及计算模块。检测模块可检测存储器控制器的多个存取命令是否发生页错失，以便从存取命令中识别出至少一个页错失命令。计算模块耦接检测模块。计算模块可计算至少一个页错失命令与先前冲突命令之间的距离来作为冲突命令间距，其中先前冲突命令与页错失命令相冲突。计算模块可依据冲突命令间距来评估存储器控制器的性能。

基于上述，本发明诸实施例所述的性能评估装置可在每一次存取命令发生页错失时计算页错失命令与先前冲突命令之间的冲突命令间距，以得知存储器的带宽是否被有效利用，进而改善页命中率无法正确反映出存储器的带宽利用状态的缺点。因此，本发明诸实施例所述的性能评估方法可更准确地评估存储器控制器的性能。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1A是依照本发明的一实施例所绘示的性能评估装置的电路方块(circuitblock)示意图。

图1B是依照本发明的另一实施例所绘示的性能评估装置的电路方块示意图。

图2是依照本发明的一实施例的存储器控制器的性能评估方法的流程示意图。

图3是依照本发明的一实施例说明窗口深度的示意图。

图4是依照本发明的另一实施例的存储器控制器的电路方块示意图。

图5是依照本发明的一实施例说明计算离散冲突因子的示意图。

【符号说明】

11：存储器控制器

12：存储器

13：中央处理单元

14：存储器控制器

15：命令处理电路