[发明专利]一种基站高强度电磁辐射发生率估计方法

说明书

本发明公开了一种基站高强度电磁辐射发生率估计方法，该方法先建立高强度电磁辐射出现的时间序列，然后对时间序列进行统计分析，首先分析1秒时间段内高强度辐射值发生的最小次数，再分析3秒以及10秒时间段内高强度辐射值发生次数，并统计分析3秒以及10秒时间段内高强度辐射值发生次数的方差，根据方差计算1秒内基站高强度电磁辐射发生概率分布的形状参数，然后得到1秒内高强度电磁辐射发生概率分布。本发明可非常清楚地分析在一秒时间内基站高强度电磁辐射发生次数的概率，为基站电磁辐射评估提供一种有效的方法。

技术领域

本专利涉及一种基站高强度电磁辐射发生率估计方法。

背景技术

移动通信基站数量越来越多，而且越来越靠近居民区，通信基站电磁辐射已经成为影响社会环境的重要因素。在对基站的电磁辐射测试中，人们常常发现基站电磁辐射大小不断变化，非常需要科学的评估方法，来衡量基站电磁辐射特性。在基站电磁辐射评估中，对高强度电磁辐射值的评估尤其重要，尤其是高强度电磁辐射发生率的估计，是衡量基站电磁辐射的一个重要方面，但目前在已经公开的文献和专利中，还没有很好的方法来解决这个问题。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种基站高强度电磁辐射发生率估计方法。

本发明解决上述技术问题的技术方案包括以下步骤：

1)、将频谱分析仪的扫频带宽设置为零，将频谱分析仪的中心频率设置为被测通信基站的发射中心频率，扫描时间sweep time设置为6秒，保存每次扫描测量结果，然后测量一个小时，首先找出一个小时内测量值中的最大值，最大值的80％定义为e，然后将大于e的其余测量值提取出来，这些大于e的值定义为高强度电磁辐射值，建立这些高强度电磁辐射值出现的时间序列x(t)，t为时间轴，当在某个t时刻出现高强度电磁辐射值时，x(t)等于1，否则等于0；

2)将步骤1)得到的x(t)时间序列统计分析，首先得到在1秒时间段内高强度电磁辐射值发生的最小次数n_min；建立时间段3秒，得到在时间轴上每3秒时间段内出现高强度电磁辐射值发生次数k＝1,2,3,…,1200,k表示在时间轴上的第k个3秒时间段；再建立时间段10秒，得到在时间轴上每10秒时间段内高强度电磁辐射值发生次数k＝1,2,3,…,360,k表示在时间轴上的第k个10秒时间段；

3)统计步骤2)中的方差σ³和的方差σ¹⁰；

4)根据步骤3)得到的方差，计算1秒内基站高强度电磁辐射发生概率分布的形状参数H：

5)根据步骤4)得到的形状参数H，得到1秒内高强度电磁辐射发生概率分布f(n)：

上式(2)中n为1秒内高强度电磁辐射出现次数，f(n)为1秒内基站高强度电磁辐射出现次数为n的概率。

在所述步骤3)中，其方差统计为：

上式(3)中的为的平均值，上式(4)中的为的平均值。

本发明的有益效果在于：本方法通过对测量值进行统计分析，计算在不同时间段内高强度电磁辐射出现次数及其方差，通过不同时间段内的方差得到高强度电磁辐射发生率的概率分布，对基站建设和环境保护有极大的参考价值。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步的说明。

本发明实施对象为1个GSM基站，下行发射频率为935.4MHz，测量设备采用便携式频谱分析仪(KEYSIGHT N9918A，测量最大频率26.5GHz)和对数周期天线(HyperLOG 60180，测量频率范围680MHz～18GHz)。