[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201810160548.0 | 申请日: | 2018-02-27 |
公开(公告)号: | CN109524466B | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
发明(设计)人: | 加藤浩朗;小林研也 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘英华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
1.一种半导体装置,具备:
第1导电型的漏极层,在第1方向及与第1方向交叉的第2方向上扩展;
第1导电型的漂移层,形成于上述漏极层的表面,该表面是上述漏极层的与上述第1方向及上述第2方向交叉的第3方向上的一个面;
第2导电型的基底区域,形成于上述漂移层的表面;
第1导电型的源极区域,形成于上述基底区域的表面;
多个沟槽,该多个沟槽为在上述第1方向及上述第2方向上形成为阵列状的沟槽,且从上述源极区域的表面沿着上述第3方向贯通上述基底区域而到达上述漂移层;
第2导电型的基底接触件区域,是在沿着上述第1方向的沟槽彼此之间以在上述第2方向上延伸的方式形成的基底接触件区域,且形成为在上述源极区域内与上述沟槽分离,并与上述基底区域电连接;
多个栅极区域,沿着各个上述沟槽的内壁隔着绝缘膜形成于上述沟槽内;
多个场板电极,在各个上述栅极区域隔着绝缘膜而相邻并在上述沟槽内沿着上述第3方向形成,在上述第3方向上形成为比上述栅极区域长;
第1源极接触件,在上述基底接触件区域及上述源极区域的上表面,在沿着上述第1方向的沟槽彼此之间,以沿着上述第2方向延伸的方式形成,与上述基底接触件区域及上述源极区域电连接;
第2源极接触件,在上述场板电极的上表面,与上述场板电极电连接;以及
栅极接触件,在上述栅极区域的上表面与上述栅极区域电连接。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,还具备:
第1金属层,与上述基底接触件区域及上述源极区域经由上述第1源极接触件而连接,与各个上述场板电极经由上述第2源极接触件而连接;
第2金属层,与上述第1金属层通过绝缘膜而绝缘,与各个上述栅极区域经由上述栅极接触件而连接;以及
第3金属层,以与上述第1金属层连接,并且与上述第2金属层通过绝缘膜而绝缘的方式,层叠在上述第1金属层及上述第2金属层的上述第3方向上而形成。
3.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,
上述沟槽配置成矩形格子状或者斜方格子状。
4.根据权利要求2所述的半导体装置,其中,
上述沟槽配置成矩形格子状或者斜方格子状。
5.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,
上述第3方向与上述第1方向及上述第2方向大致正交。
6.根据权利要求2所述的半导体装置,其中,
上述第3方向与上述第1方向及上述第2方向大致正交。
7.根据权利要求4所述的半导体装置,其中,
上述第3方向与上述第1方向及上述第2方向大致正交。
8.根据权利要求1、2、3、5或7所述的半导体装置,其中,
上述第1方向与上述第2方向大致正交,
上述沟槽是在上述第1方向及上述第2方向上有边、且在上述第2方向上延伸的边比在上述第1方向上延伸的边更长的矩形状的沟槽,
上述场板电极在上述沟槽中沿着上述第2方向而形成。
9.根据权利要求1、2、3、5或7所述的半导体装置,其中,
上述沟槽是六边形状、圆状、椭圆状或者将矩形或者六边形倒角后的形状。
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