[发明专利]一种离子注入制备氮掺杂石墨烯的方法在审
申请号: | 201810162045.7 | 申请日: | 2018-02-27 |
公开(公告)号: | CN108364856A | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
发明(设计)人: | 赵子强;赵云彪;付恩刚;王绪;韩冬 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/265;H01L21/324 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 刘奇 |
地址: | 100089*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 衬底 氮掺杂石墨烯 氮掺杂 氮原子 多层膜 非晶 掺杂量 氮离子 制备 离子 退火 离子注入参数 离子注入技术 电子迁移率 固态碳源 一步制备 依次设置 可替换 石墨烯 碳原子 偏析 | ||
本发明提供了一种离子注入制备氮掺杂石墨烯的方法,包括以下步骤:提供多层膜衬底,所述多层膜衬底包括依次设置的Si层、SiO2层、非晶SiC层、Cu层和Ni层;所述非晶SiC层可替换为DLC膜;在所述多层膜衬底的Ni层表面进行氮离子注入,得到氮掺杂衬底;将所述氮掺杂衬底进行退火,得到氮掺杂石墨烯。本发明结合离子注入技术和固态碳源法,以非晶SiC或者DLC膜为碳源,通过氮离子注入,使氮原子和碳原子共偏析一步制备出氮掺杂的石墨烯;通过对离子注入参数的控制实现对氮原子的掺杂量的控制。实验结果表明,本发明提供的方法能够精确控制氮原子的掺杂量,得到的氮掺杂石墨烯电子迁移率可达850cm2V‑1s‑1。
技术领域
本发明涉及石墨烯制备技术领域,特别涉及一种离子注入制备氮掺杂石墨烯的方法。
背景技术
石墨烯是一种新型的二维材料,由于其在机械,光学,电学和化学等方面具有优异的特性,所以石墨烯材料拥有巨大的应用潜力。但是本征石墨烯的价带和导带在布里渊区中心呈锥形接触,是零带隙的半导体或者说半金属,不能起到关断的作用,限制了其在纳米电子学方面的应用潜力,因此打开本征石墨烯的带隙具有十分重要的意义。掺杂是一种最为常见的方法来调制石墨烯的电学性能,常见的掺杂异质原子主要是N(氮)和B(硼)。
目前,氮掺杂石墨烯研究主要有如下几种:
1、化学气相沉积(CVD)法:一般使用过渡金属(例如铜,镍)作为衬底,在高温下同时通入气态的碳源和异质原子的气体(例如NH3)直接在催化衬底上制备N掺杂的石墨烯。这种方法会受到气流速度,生长温度,生长时间和催化衬底等因素影响,难以精确的调控掺杂的形式和掺杂量。
2、辐照或等离子体处理法:这种方法是直接利用低能离子或者等离子体轰击石墨烯,从而达到替位掺杂的目的,但是由于N原子替位掺杂效率低下,轰击同时会导致更多的点缺陷,影响石墨烯材料的电学性能。
3、化学溶剂法,这种方法一般是把氧化石墨烯和含氮元素的溶液一起水浴加热,然后高温处理得到掺杂石墨烯材料。这种方法的掺杂量和可控性都很差,并且很难制备出大面积的石墨烯材料,无法满足纳米电子学的要求。
综上所述,现有技术中制备氮掺杂石墨烯的方法都存在氮掺杂量不可控,制备得到的氮掺杂石墨烯电学性能差的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种离子注入制备氮掺杂石墨烯的方法。本发明提供的方法能够精确控制氮的掺杂量,制备的氮掺杂石墨烯具有良好的电学性能。
本发明提供了一种离子注入制备氮掺杂石墨烯的方法,包括以下步骤:
(1)提供多层膜衬底,所述多层膜衬底包括依次设置的Si层、SiO2层、非晶SiC层、Cu层和Ni层;所述非晶SiC层可替换为DLC膜;
(2)在所述多层膜衬底的Ni层表面进行氮离子注入,得到氮掺杂衬底;
(3)将所述氮掺杂衬底进行退火,得到氮掺杂石墨烯。
优选的,所述步骤(1)多层膜衬底中非晶SiC层或DLC膜的厚度为10~50nm。
优选的,所述步骤(1)多层膜衬底中非晶SiC层或DLC膜采用磁控溅射法制备。
优选的,所述步骤(1)多层膜衬底中Cu层的厚度为50~200nm。
优选的,所述步骤(1)多层膜衬底中Ni层的厚度为200~400nm。
优选的,所述步骤(1)多层膜衬底中Cu层和Ni层独立地采用过滤阴极真空电弧镀膜法制备。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学,未经北京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810162045.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造