[发明专利]位置传感器和位置感测的方法

权利要求书

1.一种确定传感器设备相对于外磁场的位置的方法，所述方法包括步骤：

-向第一电导体施加或调节第一电流来生成将与所述外磁场叠加的第一内磁场以便形成第一总磁场；

-使用第一磁性感测元件在第一位置处测量所述第一总磁场的分量；

-向不同于所述第一电导体的第二电导体施加或调节第二电流来生成将与所述外磁场叠加的第二内磁场以便形成第二总磁场；

-使用不同于所述第一磁性感测元件的第二磁性感测元件在第二位置处测量所述第二总磁场的分量；

-根据至少所述第一电流和所述第二电流或根据所述第一电流和所述第二电流以及考虑在所述第一位置处所测量的所述第一总磁场的分量和/或在所述第二位置处所测量的所述第二总磁场的分量来计算所述传感器设备的位置。

2.根据权利要求1所述的方法，包括以下初始步骤：

通过以下操作来确定或更新所述第一电流的值：

i)在所述第一位置处测量所述第一磁场分量；

ii)基于所测量的第一磁场分量来确定所述第一电流值，使得所述总磁场的所述分量的幅值小于单独的所述外磁场的幅值；

和/或通过以下操作来确定或更新所述第二电流的值：

i)在所述第二位置处测量所述第二磁场分量；

ii)基于所测量的第二磁场分量来确定所述第二电流值，使得所述总磁场的所述分量的幅值小于单独的所述外磁场的幅值。

3.根据权利要求1所述的方法，包括在计算所述位置时测量所述第一电流和/或所述第二电流以及利用所测量的第一电流和/或第二电流。

4.根据权利要求1所述的方法，还包括：

-基于所测量的所述第一总磁场的分量来调节所述第一电流以减小所述第一总磁场的所述分量的幅值；

-基于所测量的所述第二总磁场的分量来调节所述第二电流以减小所述第二总磁场的所述分量的幅值；

-使用所述第一磁性感测元件在所述第一位置处再次测量所述第一总磁场的所述分量；

-使用所述第二磁性感测元件在所述第二位置处再次测量所述第二总磁场的分量。

5.根据权利要求4所述的方法，

其中重复所述调节和测量步骤，直到在所述第一位置处测量的所述第一总磁场的所述分量的幅值的绝对值和所述第二位置处测量的所述第二总磁场的所述分量的幅值的绝对值均小于预定义阈值，所述预定义阈值小于250mT。

6.根据权利要求3所述的方法，其中多次重复所述调节和测量步骤。

7.根据权利要求1所述的方法，

其中调节所述第一电流和/或所述第二电流的所述步骤包括测试所述第一总磁场的所述分量的幅值的绝对值和所述第二总磁场的所述分量的幅值的绝对值是否均小于预定义阈值，所述预定义阈值小于250mT，并且如果所述测试的结果是否定的，则调节所述第一电流和所述第二电流中的至少一者，并且如果所述测试的结果是肯定的，则保持所述第一电流和所述第二电流。

8.根据权利要求7所述的方法，

其中调节所述电流是指取决于所测量的总磁场的所述分量大于零还是小于零而以预先确定的量增大或减小；或者

其中调节所述电流是指取决于所测量的总磁场的所述分量大于还是小于一组预定义阈值而以选自一组有限的预先确定的量的量增大或减小；或者

其中调节所述电流是指施加选自由比例(P)控制环路、比例积分(PI)控制环路、比例微分(PD)控制环路、以及比例微分积分(PID)控制环路组成的组的过程控制环路。