[发明专利]光信息记录介质以及再生方法

说明书

一种光信息记录介质以及再生方法。在将根据从第1坑点串的最长坑点(P1max)或最长间隙(S1max)获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从第2坑点串的最长坑点(P2max)或最长间隙(S2max)获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，第1坑点串被形成为第1反射率与第2反射率大致相同。

本申请是申请日为2014年04月08日、申请号为201480031827.7、发明名称为“光信息记录介质、再生方法以及再生装置”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及能够记录信息的光信息记录介质及其再生方法和再生装置。

背景技术

近年，为了保存高画质影像等的大量信息，要求光信息记录介质的大容量化，即，要求提高记录密度。为此，提出了超分辨率技术，其中，使通过包含具有比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的长度的坑点的坑点串而高密度记录了信息的光信息记录介质(超分辨率介质)，以高于使通过由不包含具有上述光学系统分辨率限度以下的长度的坑点的坑点构成的坑点串而记录了信息的光信息记录介质(通常介质)进行再生时的再生光强度(再生激光功率)的再生光强度，来进行再生。此外，在将再生装置所射出的再生光的波长设为λ、将物镜的数值孔径设为NA的情况下，光学系统超分辨率限度为λ/4NA。

作为上述超分辨率介质的例子，可列举专利文献1。在专利文献1中公开了下述光信息记录介质，其中分配有：通过包含比光学系统分辨率限度的长度短的长度的坑点(凹以及/或者凸)而记录了内容的第1区域；和通过坑点而记录了用于确定介质的种类的介质识别信息的第2区域。另外，在该光信息记录介质中，形成上述介质识别信息的坑点以光学系统分辨率限度的长度以上的长度来形成。由此，在进行超分辨率介质的介质识别时，能够以适合通常介质的信息再生的再生激光功率而识别出为超分辨率介质。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：国际公开第2007/100139号(2007年9月7日公开)

发明内容

发明所要解决的课题

然而，在专利文献1的光信息记录介质中，第1区域中形成的坑点的长度以及坑点间隔与第2区域中形成的坑点的长度以及坑点间隔彼此不同。即，在第1区域中的信息的记录密度与第2区域中的信息的记录密度之间产生了差异。

该情况下，在从第1区域获得的反射率与从第2区域获得的反射率之间，有可能产生再生装置无法将这些反射率视为大致相同的差异。在产生了该差异的情况下，当一个区域的信息再生和另一个区域的信息再生被连续进行时，有可能在另一个区域中发生焦点偏移等现象。

本发明正是鉴于上述问题点而实现的，其目的在于实现能够提高信息的再生质量的光信息记录介质、以及能够使该光信息记录介质进行再生的再生装置等。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题，本发明的一方式所涉及的光信息记录介质具有被分配了通过第1坑点串而记录有信息的第1区域、和通过第2坑点串而记录有信息的第2区域的记录层，所述第1坑点串包含长度比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，所述第2坑点串由具有上述光学系统分辨率限度的长度以上的长度的坑点构成，在将根据从上述第1坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从上述第2坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，上述第1坑点串被形成为上述第1反射率与上述第2反射率大致相同。

发明效果

根据本发明的一方式，具有能够提高信息的再生质量的效果。

附图说明