[发明专利]一种基于激光三角位移测量方法的厚度测量装置

权利要求书

1.一种基于激光三角位移测量方法的厚度测量装置，其特征在于：包括相对设置的第一测距仪（1）和第二测距仪（2），第一测距仪（1）和第二测距仪（2）结构相同，它们均包括壳体（5），在壳体（5）内的一侧安装激光器（6），在激光器（6）前侧的壳体（5）内安装镜片（7），在壳体（5）内的另一侧安装CMOS图像采集模块（8），在CMOS图像采集模块（8）前侧的壳体（5）内安装镜头组件（9），在壳体（5）内还安装信号处理器（10），信号处理器（10）电连接激光器（6）和CMOS图像采集模块（8）；

第一测距仪（1）发出第一激光（3）的方向和第二测距仪（2）发出第二激光（4）的方向相反。

2.根据权利要求1所述的一种基于激光三角位移测量方法的厚度测量装置，其特征在于：所述第一激光（3）和所述第二激光（4）共线。

3.根据权利要求1所述的一种基于激光三角位移测量方法的厚度测量装置，其特征在于：所述第一激光（3）和所述第二激光（4）采用两个波段的激光。

4.根据权利要求3所述的一种基于激光三角位移测量方法的厚度测量装置，其特征在于：所述第一激光（3）采用红色激光，所述第二激光（4）采用蓝色激光。

5.根据权利要求1所述的一种基于激光三角位移测量方法的厚度测量装置，其特征在于：所述镜片（7）采用凸透镜。

6.根据权利要求1所述的一种基于激光三角位移测量方法的厚度测量装置，其特征在于：所述镜头组件（9）包括镜头壳（11），在镜头壳（11）内的两侧分别安装一个凸透镜（12），在两个凸透镜（12）之间设有一个凹透镜（13）。

7.根据权利要求1所述的一种基于激光三角位移测量方法的厚度测量装置，其特征在于：在所述壳体（5）的前侧设有透光孔，所述第一激光（3）和它的第一反射光线（3.1）通过对应的透光孔，所述第二激光（4）和它的第二反射光线（4.1）通过对应的透光孔。