[发明专利]有源矩阵显示器和用于其中的阈值电压补偿的方法有效

专利信息
申请号: 201810168205.9 申请日: 2018-02-28
公开(公告)号: CN108510942B 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: J·吉诺;F·德卢斯;W·德阿纳;L·费许尔伦 申请(专利权)人: IMEC非营利协会;鲁汶天主教大学
主分类号: G09G3/3225 分类号: G09G3/3225
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈斌;蔡悦
地址: 比利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 有源 矩阵 显示器 用于 中的 阈值 电压 补偿 方法
【权利要求书】:

1.一种用于有源矩阵显示器(200)中的阈值电压补偿的方法,所述显示器(200)包括被布置成阵列的多个像素(100),所述阵列包括多个行和多个列,其中像素包括:具有驱动器栅极(104)和校准栅极(106)的驱动晶体管(102)、用于选择性地将第一数据线(110)连接到所述驱动晶体管(102)的所述驱动器栅极(104)的选择晶体管(108)、用于选择性地将第二数据线(114)连接到所述驱动晶体管(102)的所述校准栅极(106)的校准晶体管(112),其中所述方法包括:

以校准测量模式驱动(402)所述显示器(200)用于测量至少一个像素(100)的阈值电压以便能够对所述至少一个像素(100)进行校准,其中,在所述校准测量模式中,所述至少一个像素(100)的所述选择晶体管(108)的栅极被打开以便将所述第一数据线(110)连接到所述驱动晶体管(102)的所述驱动器栅极(104)以及所述至少一个像素(100)的所述校准晶体管(112)的栅极被打开以便将所述第二数据线(114)连接到所述驱动晶体管(102)的所述校准栅极(106),以及测量信号被主动地驱动到第一和第二数据线(110;114)中的一个,并且校准信号在所述第一和第二数据线(110;114)中的另一个上被测量;

基于测得的校准信号为所述至少一个像素(100)确定(404)校准数据;以及

以校准刷新模式驱动(406)所述显示器(200)以校准至少一个像素(100),其中,在所述校准刷新模式中,所述至少一个像素(100)的所述选择晶体管(108)的栅极被关闭以便将所述第一数据线(110)从所述驱动晶体管(102)的所述驱动器栅极(104)断开,以及所述至少一个像素(100)的所述校准晶体管(112)的栅极被打开以便将所述第二数据线(114)连接到所述驱动晶体管(102)的所述校准栅极(106),以及经确定的校准数据在所述第二数据线(114)上被提供给所述驱动晶体管(102)的所述校准栅极(106)。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测量信号是具有第一频率的周期性变化的信号。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述测量信号相对于恒定信号而言是变化的,其中所述恒定信号被选择为等于或大于预期的最高可能的阈值电压或被选择为等于或低于预期的最低可能的阈值电压。

4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,针对所述校准信号测量与所述第一频率相关的至少二次或三次谐波。

5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,同时对一行中的像素的子集(100b、100d)测量所述阈值电压,并且其中第一和第二测量信号(214、216)被提供,所述第二测量信号(216)相对于所述第一测量信号(214)而言被相移了180°,使得所述像素的子集(100b、100d)中在所述第一数据线(110)上接收所述第一测量信号(214)的像素与所述像素的子集(100b、100d)中接收所述第二测量信号(216)的像素相邻。

6.如权利要求1所述的方法,进一步包括:存储所述校准数据并以所述校准刷新模式在第二数据线(114)上将将所存储的校准数据提供给所述驱动晶体管(102)的校准栅极(106)。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,单个行中的至少一个像素(100)以所述校准测量模式被驱动,并且对于所有其他行而言所述选择晶体管(108)和所述校准晶体管(112)的所述栅极被关闭以将前一帧的图像维持在所述显示器(200)上。

8.如权利要求1所述的方法,进一步包括针对至少一行像素(100)相对于黑屏显示器和相对于被呈现在所述显示器(200)上的图像两者来执行所述校准测量模式,从而获得相对于黑屏显示器的校准信号并获得相对于呈现图像的显示器的校准信号,以及基于相对于黑屏显示器的测得的校准信号与相对于呈现图像的显示器的测得的校准信号之差来估计所述显示器(200)的接地平面的电压降。

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