[发明专利]光耦测试装置

权利要求书

1.一种光耦测试装置，其特征在于：包括操作面板（9）和测试电路（10），所述操作面板（9）上设有指示模块（13）、按钮模块（14）、与光耦（100）的输入端正极（1）对应的正极插座（5）、与光耦（100）的输入端负极（2）对应的负极插座（6）、与光耦（100）的输出端发射极（3）对应的发射极插座（7）、与光耦（100）的输出端集电极（4）对应的集电极插座（8），所述指示模块（13）包括光耦电源灯（LED3）、光耦测试灯（LED4），所述按钮模块（14）包括光耦上电开关（J3）、光耦测试开关（J4），所述测试电路（10）设有第一测试电路（11）和第二测试电路（12），所述第一测试电路（11）与所述光耦电源灯（LED3）、光耦上电开关（J3）、正极插座（5）和负极插座（6）连接，所述第二测试电路（12）与所述光耦测试灯（LED4）、光耦测试开关（J4）、发射极插座（7）和集电极插座（8）连接；

所述第一测试电路（11）包括第一电源（V1）、第一电阻（R1），所述正极插座（5）通过所述光耦上电开关（J3）与所述第一电源（V1）正极连接，所述第一电阻（R1）和光耦电源灯（LED3）串联后连接于所述负极插座（6）与第一电源（V1）负极之间；

所述第二测试电路（12）包括第二电源（V2）、第二电阻（R2）、第三电阻（R3）、第四电阻（R4）和三极管（Q），所述集电极插座（8）经所述光耦测试开关（J4）后分别与所述第二电源（V2）正极、三极管（Q）的集电极连接，所述发射极插座（7）通过所述第二电阻（R2）与所述三极管（Q）的基极连接，所述第四电阻（R4）和光耦测试灯（LED4）串联后连接于所述三极管（Q）的发射极与第二电源（V2）负极之间，所述第三电阻（R3）一端与所述发射极插座（7）连接，另一端与所述第二电源（V2）负极连接。

2.根据权利要求1所述的光耦测试装置，其特征在于：所述指示模块（13）还包括第一电源灯（LED1），所述按钮模块（14）还包括第一电源开关（J1），所述第一测试电路（11）还包括第五电阻（R5），所述第一电源开关（J1）连接于所述第一电源（V1）正极与光耦上电开关（J3）之间，所述第五电阻（R5）一端分别与所述第一电源开关（J1）和光耦上电开关（J3）连接，另一端与所述第一电源灯（LED1）正极连接，所述第一电源灯（LED1）负极与所述第一电源（V1）负极连接。

3.根据权利要求1所述的光耦测试装置，其特征在于：所述指示模块（13）还包括第二电源灯（LED2），所述按钮模块（14）还包括第二电源开关（J2），所述第二测试电路（12）还包括第六电阻（R6），所述第二电源开关（J2）连接于所述第二电源（V2）正极与光耦测试开关（J4）之间，所述第六电阻（R6）一端分别与所述第二电源开关（J2）和光耦测试开关（J4）连接，另一端与所述第二电源灯（LED2）正极连接，所述第二电源灯（LED2）负极与所述第二电源（V2）负极连接。