[发明专利]一种高碳氮比样品中碳氮稳定同位素的测定方法有效
| 申请号： | 201810169757.1 | 申请日： | 2018-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN108445072B | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 尚云涛;王义东;陈奕霖;曹佳蕊;杨曦;李勇;李军 | 申请（专利权）人： | 天津师范大学 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 天津市杰盈专利代理有限公司 12207 | 代理人： | 朱红星 |
| 地址： | 300387 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 高碳氮 样品 中碳氮 稳定 同位素 测定 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种高碳氮比样品中碳氮稳定同位素的测定方法，其特征在于按如下的步骤进行：
（1）将植物、土壤或沉积物样品经80℃，24h烘干，研磨过120目筛网；
（2）用锡杯包裹待测样品，采用元素分析-稳定同位素质谱联用仪检测待测样品；元素分析仪的条件为：载气He压强50kPa，进样器He吹扫流量80ml/min，氧气压强15 kPa，氧化炉1020℃，还原炉650℃，柱温箱115℃，氧化管催化剂为镀银氧化钴25克和氯化铬25克，还原管内为颗粒状纯铜，φ 0.7mm50克；
（3）δC13检测中稳定同位素质谱仪分析条件为：离子源真空2x10-6 mBar，离子源电压5KV，载气He压强15psi，分流气He压强27psi；
（4）δN15检测中稳定同位素质谱仪分析条件为：离子源真空2x10-6 mBar，离子源电压5KV，载气He压强15psi，分流气He压强45psi；
（5） 在上述条件下对标准品和样品同位素值进行分析，以标准品信号值为横坐标，以标准品标定同位素值为纵坐标建立标准曲线，将样品信号值带入标准曲线，得出样品同位素值；
重复检测5次，统计实验结果。
2.采用权利要求1所述的高碳氮比样品中碳氮稳定同位素测定方法在提高高碳氮比样品碳氮同位素检测精确性方面的应用。
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