[发明专利]OTA测试暗室及测试系统

说明书

本发明实施例涉及测试技术领域，具体涉及一种OTA测试暗室及暗室系统，暗室系统包括控制终端、频谱分析仪以及基站仿真器，且频谱分析仪和基站仿真器分别与控制终端电连接，OTA测试暗室包括暗室本体、放置设备、检测天线、通信天线、选择开关以及耦合天线。放置设备设置于暗室本体内以用于放置待测终端，耦合天线的一端设置于放置设备并靠近待测终端、另一端与选择开关的第一选通端口电连接，通信天线一端设置于暗室本体内、另一端与选择开关的第二选通端口电连接，选择开关的输入端口与基站仿真器电连接，检测天线一端设置于暗室本体内、另一端与频谱分析仪和基站仿真器分别电连接。通过上述设置以便于基站仿真器与OTA测试暗室中的待测终端建立连接。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种OTA测试暗室及测试系统。

背景技术

现有的天线OTA测试系统中，第一步都是启动系统，然后将待测终端放进暗室转台和基站仿真器建立连接，但是，目前在将待测终端与基站仿真器建立连接时，通常较为困难。

发明人经研究发现，在建立待测终端与基站仿真器的连接时，很大程度取决于暗室通信天线和终端之间的连接插损和仪器设备各项配置是否适合。但是总体而言，通信天线和待测终端的连接线路损耗越小，那么越容易连接。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种OTA测试暗室及测试系统，以便于使待测终端与基站仿真器建立连接。

本发明实施例提供一种OTA测试暗室，应用于包括控制终端、频谱分析仪以及基站仿真器的暗室系统，所述频谱分析仪和基站仿真器分别与所述控制终端电连接，所述OTA测试暗室包括暗室本体、放置设备、检测天线、通信天线、选择开关以及耦合天线；

所述放置设备设置于所述暗室本体内以用于放置待测终端，所述耦合天线的一端设置于所述放置设备并靠近所述待测终端、另一端与所述选择开关的第一选通端口电连接，所述通信天线一端设置于所述暗室本体内、另一端与所述选择开关的第二选通端口电连接，且所述耦合天线到所述待测终端的距离小于所述通信天线到所述待测终端之间的距离，所述选择开关的输入端口与所述基站仿真器电连接，所述检测天线一端设置于暗室本体内、另一端与所述频谱分析仪和基站仿真器分别电连接。

可选的，在上述OTA测试暗室中，所述放置设备包括转盘、转轴以及驱动设备，所述驱动设备与所述转轴连接，所述转轴与所述转盘连接且与所述转盘的盘面垂直，以用于在驱动设备的作用下带动所述转盘旋转，所述转轴设置于所述暗室本体的内侧壁上，所述待测终端设置于所述转盘，所述耦合天线远离所述选择开关的一端设置于所述转盘并靠近所述待测终端或与所述待测终端接触。

可选的，在上述OTA测试暗室中，所述OTA测试暗室还包括屏蔽盒，所述屏蔽盒设置于所述转盘，所述耦合天线远离所述选择开关的一端设置于所述屏蔽盒内。

可选的，在上述OTA测试暗室中，所述OTA测试暗室还包括接口转换设备，所述驱动设备通过所述接口转换设备与所述控制终端电连接，以使所述控制终端能够通过所述接口转换设备发送控制信号至所述驱动设备以控制所述驱动设备驱动所述转轴转动。

可选的，在上述OTA测试暗室中，所述选择开关具有控制端，所述选择开关的控制端与所述控制终端电连接，以使所述控制终端能够控制所述选择开关选通所述基站仿真器与所述通信天线之间的连接，或选通所述基站仿真器与所述耦合天线之间的连接。

可选的，在上述OTA测试暗室中，所述选择开关为单刀双掷开关。

可选的，在上述OTA测试暗室中，所述通信天线为圆极化卫星小型天线。

本发明还提供一种暗室系统，包括控制终端、频谱分析仪、基站仿真器以及OTA测试暗室，所述频谱分析仪和基站仿真器分别与所述控制终端电连接，所述OTA测试暗室包括暗室本体、放置设备、检测天线、通信天线、选择开关以及耦合天线；