[发明专利]使用干扰测量的功率消耗优化

权利要求书

1.一种处理系统，包括：

感测模块，包括配置成与多个传感器电极所耦合的感测电路，

其中所述感测模块可操作于至少第一低功率操作模式或高功率操作模式中，并配置成：

当操作于所述第一低功率操作模式中，应用用于至少一个预定义感测参数的值的第一集合，所述值的第一集合对应于第一功率消耗等级；

当操作于所述第一低功率操作模式中，使用所述多个传感器电极来获取第一干扰测量；

在确定所述第一干扰测量超过第一干扰阈值时，从所述第一低功率操作模式转变为所述高功率操作模式；以及

当操作于所述高功率操作模式中，应用用于所述至少一个预定义感测参数的值的第二集合，所述值的第二集合对应于大于所述第一功率消耗等级的第二功率消耗等级。

2.如权利要求1所述的处理系统，其中，所述至少一个预定义感测参数从由下列项所组成的组中选取：

感测的定时是否基于水平同步信号和垂直同步信号其中之一；

与感测关联的积分周期的时长；

用于执行跨电容性感测的定时模式；

与感测关联的脉冲突发大小；

抗混叠滤波器的设定；

感测周期期间的脉冲突发的数量；

电荷泵的设定；

码分复用的代码长度；

感测信号的调制幅度；以及

参考通道的设定。

3.如权利要求1所述的处理系统，其中，所述第一低功率操作模式是多种预定义低功率操作模式其中之一，所述低功率操作模式的每个具有比所述高功率操作模式的所述第二功率消耗等级更小的相应功率消耗等级，

其中从所述第一低功率操作模式转变为所述高功率操作模式是响应于确定不从所述第一低功率操作模式转变为所述多种预定义低功率操作模式中的预定义水分操作模式而执行。

4.如权利要求1所述的处理系统，其中，所述感测模块还配置成：

当操作于所述高功率操作模式中，使用所述多个传感器电极来获取第二干扰测量；以及

基于所述第二干扰测量与第二干扰阈值的比较来确定是否从所述高功率操作模式转变成第二低功率操作模式。

5.如权利要求4所述的处理系统，其中，所述感测模块还配置成：

当操作于所述第二低功率操作模式中，应用用于所述至少一个预定义感测参数的值的第三集合。

6.如权利要求1所述的处理系统，其中，所述感测模块还配置成：

在从所述第一低功率操作模式转变为所述高功率操作模式时，对后续电容测量应用基准偏移值，所述基准偏移值反映所述第一低功率操作模式的第一基准电容测量与所述高功率操作模式的第二基准电容测量之间的差。

7.如权利要求6所述的处理系统，其中，所述基准偏移值包括下列至少一个：

与全部所述多个传感器电极对应的已更新全局粗略基准校正值，以及

与少于全部所述多个传感器电极对应的已更新局部粗略基准校正值。

8.一种使用与多个传感器电极耦合的处理系统所执行的方法，所述方法包括：

当所述处理系统操作于第一低功率操作模式中，应用用于至少一个预定义感测参数的值的第一集合，所述值的第一集合对应于第一功率消耗等级；

当所述处理系统操作于所述第一低功率操作模式中，使用所述多个传感器电极来获取第一干扰测量；

在确定所述第一干扰测量超过第一干扰阈值时将所述处理系统从所述第一低功率操作模式转变为高功率操作模式；以及

当所述处理系统操作于所述高功率操作模式中，应用用于所述至少一个预定义感测参数的值的第二集合，所述值的第二集合对应于大于所述第一功率消耗等级的第二功率消耗等级。