[发明专利]一种可自动校正的测绘系统在审

专利信息
申请号: 201810175905.0 申请日: 2018-03-02
公开(公告)号: CN108469258A 公开(公告)日: 2018-08-31
发明(设计)人: 蔡少辉;周永桧;张映宁;张耀选 申请(专利权)人: 核工业二一六大队
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 张雅丁
地址: 830011 新疆*** 国省代码: 新疆;65
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摘要:
搜索关键词: 测绘系统 转轴 锥形齿轮 自动校正 支撑杆 测绘 设备技术领域 固定柱侧面 支撑杆侧面 转轴垂直 固定柱 固定座 探头
【权利要求书】:

1.一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:包括测绘系统本体(1)、测绘探头(2)、固定柱(3)、支撑杆(5)、固定座(6)、第一转轴(8)、第一锥形齿轮(10)、第二转轴(11)、第二锥形齿轮(12);

在所述的测绘系统本体(1)的一侧固定安装有测绘探头(2),在测绘系统本体(1)的底部焊接有固定柱(3),固定柱(3)与测绘系统本体(1)同轴;

在固定柱(3)的侧面下部开设有凹槽(4),所述凹槽(4)与固定柱(3)的轴线平行;

在凹槽(4)内安装有支撑杆(5),支撑杆(5)可沿凹槽(4)上下滑动,且支撑杆(5)的长度大于凹槽(4)的长度,在支撑杆(5)的底部焊接有固定座(6),用于支撑支撑杆(5);

在支撑杆(5)的侧面上部开设有第一转轴槽(7),所述的第一转轴槽(7)与支撑杆(5)的轴线平行;

在第一转轴槽(7)内安装有第一转轴(8),在所述的第一转轴(8)上固定套设有第一锥形齿轮(10);所述第一转轴(8)的顶端延伸至第一转轴槽(7)外,第一转轴(8)的底端与第一转轴槽(7)的底部相接;

在凹槽(4)的正上方开设有第二转轴槽(9),第一转轴(8)的上部位于第二转轴槽(9)内;

在固定柱(3)的侧面设有第二转轴(11),第二转轴(11)的轴线与测绘探头(2)的轴线平行且共面,第二转轴(11)的一端位于凹槽(4)内,另一端位于固定柱(3)的外侧;

在第二转轴(11)位于凹槽(4)内的一端固定安装有第二锥形齿轮(12),所述的第二锥形齿轮(12)与第一锥形齿轮(10)相啮合。

2.如权利要求1所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:还包括把手(13),所述的把手(13)固定设于第二转轴(11)位于固定柱(3)外侧的一端。

3.如权利要求2所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:在所述凹槽(4)两侧的内壁上均开设有滑槽,在支撑杆(5)的两侧分别焊接有滑块,两个滑块分别位于两个滑槽内。

4.如权利要求3所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:在所述滑块与支撑杆(5)不相接的一侧分别安装有滚珠,两个滑块上的滚珠分别与凹槽(4)中滑槽的内壁相接触。

5.如权利要求4所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:在第一转轴槽(7)的内壁上设有内螺纹,在第一转轴(8)上设有外螺纹,第一转轴(8)与第一转轴槽(7)通过螺纹连接。

6.如权利要求5所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:在第一转轴(8)的上部固定安装有轴承,第二转轴槽(9)与第一转轴(8)上部的轴承转动连接。

7.如权利要求6所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:在凹槽(4)一侧的内壁上开设有转轴通孔,转轴通孔的轴线与测绘探头(2)的轴线平行且共面,第二转轴(11)的一端穿过凹槽(4)上的转轴通孔位于凹槽(4)内。

8.如权利要求7所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:在所述的把手(13)上套设有防滑套。

9.如权利要求8所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:所述的防滑套为橡胶材质。

10.如权利要求9所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:当调节测绘系统本体(1)的高度时,首先转动把手(13),把手(13)带动第二转轴(11)进行转动,第二转轴(11)带动第二锥形齿轮(12)进行转动,第二锥形齿轮(12)带动第一锥形齿轮(10)进行转动,第一锥形齿轮(10)带动第一转轴(8)进行转动,第一转轴(8)的转动带动支撑杆(5)在凹槽(4)内滑动,支撑杆(5)的滑动带动测绘系统本体(1)上下移动,当测绘系统本体(1)调节至所需高度时,停止转动把手(13),从而完成测绘系统本体(1)的高度调节。

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