[发明专利]一种检测方法和装置

权利要求书

1.一种检测设备，其特征在于，应用于显示领域，待测基板包括阵列基板、彩膜基板或玻璃基板，所述检测设备包括：

电容生成电路，包括相对设置的第一电容电极和第二电容电极，以及分别连接所述第一电容电极和所述第二电容电极的电源；所述第一电容电极靠近所述第二电容电极的一侧用于放置待测基板；其中，所述第一电容电极为一个电极板，所述第二电容电极包括n个绝缘设置的子电极，n个子电极排列成X行Y列，X和Y均为大于1的整数；

至少一个电容检测电路，连接所述电极板和所述n个子电极，用于在所述待测基板放置于所述电极板靠近所述第二电容电极的一侧后，检测所述电极板与所述n个子电极之间的电容值；

n个开关单元，每个开关单元设置于所述子电极和所述电容检测电路之间，用于控制一个子电极和所述电容检测电路的通断；

控制器，用于分时控制所述n个开关单元的闭合来分时读取所述电容检测电路测量的电容值，根据所述电容值判断所述待测基板上与所述n个子电极对应的区域中是否存在异物；所述分时控制所述n个开关单元的闭合来分时读取所述电容检测电路测量的电容值包括：所述控制器控制一开关单元闭合，控制其它开关单元打开，所述控制器读取与闭合的开关单元连接的子电极和电极板之间的电容值。

2.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述电容生成电路还包括：绝缘板，所述子电极镶嵌在所述绝缘板中。

3.根据权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述电容生成电路还包括：电连接板，设置于所述绝缘板远离所述子电极的一侧；连接n个所述子电极的导线通过所述绝缘板中的过孔连接至所述电连接板，并通过所述电连接板与所述电源连接。

4.根据权利要求3所述的检测设备，其特征在于，所述检测设备还包括：与所述绝缘板或所述电连接板连接的升降装置；

所述升降装置在所述控制器的控制下，带动所述第二电容电极沿垂直于所述第一电容电极的方向移动。

5.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，n个所述子电极的大小和形状均相同。

6.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，n个所述子电极按照阵列排布。

7.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述电容检测电路的数量为n；所述电容检测电路和所述子电极一一对应连接。

8.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述电极板为金属膜，所述子电极为金属片。

9.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述检测设备还包括：用于放置所述电极板的测试基台。

10.根据权利要求1～9任一项所述的检测设备，其特征在于，所述控制器具体用于：

比较所述电容值和标准电容值，当所述电容值和标准电容值之差的绝对值大于预设阈值时，判断所述待测基板上与所述子电极对应的区域中存在异物；

当所述电容值和所述标准电容值之差的绝对值小于或等于所述预设阈值时，判断所述待测基板上与所述子电极对应的区域中不存在异物；

其中，所述标准电容值为所述待测基板上与所述子电极对应的区域中不存在异物时所述子电极与所述电极板之间的电容值。

11.一种采用权利要求1～10任一项所述检测设备的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：

电容生成电路中第一电容电极和第二电容电极通过电源供电形成电容；

在待测基板放置于电极板靠近第二电容电极的一侧后，电容检测电路检测电极板和n个子电极之间的电容值；

控制器分时读取所述电容检测电路测量的电容值，根据所述电容值判断所述待测基板上与所述n个子电极对应的区域中是否存在异物。

12.根据权利要求11所述的检测方法，其特征在于，所述控制器根据电容值判断待测基板上与金属片对应的区域中是否存在异物包括：

所述控制器比较所述电容值和标准电容值，当所述电容值和标准电容值之差的绝对值大于预设阈值时，所述控制器判断所述待测基板上与所述子电极对应的区域中存在异物；

当所述电容值和所述标准电容值之差的绝对值小于或等于所述预设阈值时，所述控制器判断所述待测基板上与所述子电极对应的区域中不存在异物；

其中，所述标准电容值为所述待测基板上与所述子电极对应的区域中不存在异物时所述子电极与所述电极板之间的电容值。