[发明专利]基于散射中心空间滤波的低散射部件RCS测试方法及载体有效
| 申请号： | 201810187592.0 | 申请日： | 2018-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN108445463B | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 吕鸣;高超;赵轶伦 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01S7/41 | 分类号： | G01S7/41 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 周娇娇;张沫 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 散射 中心 空间 滤波 部件 rcs 测试 方法 载体 | ||
【权利要求书】：
1.基于散射中心空间滤波的低散射部件RCS测试方法，其特征在于，包括：
获取待测部组合体的RCS数据，对该RCS数据进行二维成像处理，得到所述待测部组合体的所有散射中心；
依据低散射部件和载体的空间位置信息对所述所有散射中心进行过滤，得到所述低散射部件的散射中心；
基于所述低散射部件的散射中心进行RCS重构，获取所述低散射部件的RCS数据；
其中，所述待测组合体为将低散射部件加载到载体上形成的组合体。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对该RCS数据进行二维成像处理之前，还包括：对所述待测部组合体的RCS数据进行杂波抑制处理。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对该RCS数据进行二维成像处理之前，还包括：对所述待测部组合体的RCS数据进行标定处理。
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