[发明专利]陶瓷墙地砖平整度检测装置及方法有效
申请号: | 201810188988.7 | 申请日: | 2018-03-08 |
公开(公告)号: | CN108444413B | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
发明(设计)人: | 周强;脱羚;王莹;杨晓妍;王浩然;高乐乐;田杏芝;王思琪 | 申请(专利权)人: | 陕西科技大学 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 李罡 |
地址: | 710021*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 陶瓷 地砖 平整 检测 装置 方法 | ||
本发明涉及陶瓷墙地砖平整度检测装置及方法,包括光照模块和采集模块;光照模块包括网格状密集激光器,安装于检测区域上方;采集模块包括相机,安装于检测区域上方。本发明利用网格状密集激光以垂直于瓷砖表面的照明方式对其表面进行照射,获得表面网格均匀分布的陶瓷墙地砖;利用采集模块,通过CCD相机采集所述陶瓷墙地砖图像数据,并将所述图像数据发送给定位模块;基于定位模块,定位所述图像数据的形变区域并发送给计算模块,采用BP神经网络对所述形变区域进行处理,计算出陶瓷墙地砖表面发生形变处的平整度;最后利用分级模块,采用模糊专家系统实现对陶瓷墙地砖的质量分级,以解决陶瓷墙地砖表面平整度检测精度低的问题。
技术领域
本发明涉及陶瓷墙地砖质量检测技术领域,具体涉及一种陶瓷墙地砖平整度检测装置及方法。
背景技术
陶瓷墙地砖的表面平整度是影响其品质的主要因素之一,所以陶瓷墙地砖的平整度检测问题尤为重要。
由于技术水平的限制,我国大多陶瓷企业针对平整度的测量仍处于人工检测阶段,因此检测精度难以得到保证。而国外虽然已研发出一些较为成熟的检测陶瓷墙地砖平整度的设备,但这些设备常在国内出现“水土不服”的情况。另外,这些设备高昂的价格也制约着其在国内的广泛使用。
发明内容
本发明的目的是提供一种陶瓷墙地砖平整度检测装置及方法,能够在线、快速且准确的检测出陶瓷墙地砖平整度,降低人工成本,从而显著提高陶瓷生产企业的经济效益。
本发明所采用的技术方案为:
陶瓷墙地砖平整度检测装置,其特征在于:
包括光照模块和采集模块;
光照模块中包括网格状密集激光器,安装于检测区域上方;
采集模块包括相机,安装于检测区域上方。
光照模块的网格状密集激光器包括激光头、支架及1-3V可调电源,网格状密集激光器发出的关照范围内格子总数为51×51。
采集模块包括面阵CCD相机、黑白摄像头及其增透膜和图像采集卡。
陶瓷墙地砖平整度检测方法,其特征在于:
基于光照模块、采集模块、定位模块、计算模块和分级模块构建陶瓷墙地砖平整度检测系统;
所述光照模块,采用网格状密集激光器以垂直于瓷砖表面的照明方式对其表面进行照射,获得表面网格均匀分布的陶瓷墙地砖;
所述采集模块,用于通过CCD相机采集所述陶瓷墙地砖图像数据并发送给图像处理模块;
所述定位模块,采用图像处理技术,用于定位所述图像数据的形变点并发送给计算模块;
所述计算模块,采用BP神经网络对所述形变点进行处理,计算出陶瓷墙地砖表面发生形变处的平整度;
所述分级模块,采用专家系统,对所述陶瓷墙地砖以一优等品、合格品、不合格品三个等级进行质量分级。
所述定位模块采用图像处理技术对接收到的图像数据形变点进行定位,具体过程如下:
(1)对采集到的图像数据进行滤波处理,去除噪声干扰;
(2)已知瓷砖边长为H个像素点,计算所有平行于图像坐标空间内X轴的激光线长度x及平行于图像坐标空间内Y轴的激光线长度y;
(3)若且,则计算这两条激光线的交点,即为陶瓷墙地砖图像的形变点;
(4)重复步骤(2)(3),直到找到所有的形变点,即陶瓷墙地砖表面的不平整点。
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