[发明专利]基于线切割检测脱钴深度的方法在审

专利信息
申请号: 201810189880.X 申请日: 2018-03-08
公开(公告)号: CN108663312A 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 张彩琴 申请(专利权)人: 苏州思珀利尔工业技术有限公司
主分类号: G01N19/00 分类号: G01N19/00;G01B21/18
代理公司: 南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32297 代理人: 陆明耀
地址: 215126 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 脱钴 线切割 进给 聚晶金刚石复合片 标记线 检测 观察 火花 切割 电火花 预处理 金刚石端面 导电性 金刚石 切割线 测量 截止 监控 记录
【权利要求书】:

1.基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1、对脱钴后的聚晶金刚石复合片进行预处理,并在所述聚晶金刚石复合片的基体端面(1)上做至少一条标记线;

S2、沿所述标记线向金刚石端面(2)方向进行线切割,记录切割时电流和进给速度并观察火花大小;

S3、根据所述切割电流和进给速度以及火花大小,确认是否达到脱钴层;

S4、当达到脱钴层,测量截止切割线的两端到所述金刚石端面(2)的距离,并将该距离中的最小值认定为脱钴深度。

2.根据权利要求1所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在S1步骤中,所述对脱钴后的聚晶金刚石复合片进行预处理至少包括:对脱钴后的聚晶金刚石复合片的外圆、硬质合金端面及倒角进行加工、抛光和清洗。

3.根据权利要求2所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在S1步骤中,每条所述标记线的长度与所述基体端面的直径相同。

4.根据权利要求2所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在所述S2步骤中,所述聚晶金刚石复合片固定于所述线切割设备上并保持水平。

5.根据权利要求3所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在所述S3步骤中,当所述切割电流、进给速度和电火花大小稳定,则认定所述聚晶金刚石复合片导电性良好,未至脱钴层,反之,当所述切割电流为零,几乎无电火花且进给速度为0,则认定所述聚晶金刚石复合片在该深度的导电性为0,到达脱钴层。

6.根据权利要求4所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在S3步骤中,还通过承托或者磁吸防止所述聚晶金刚石复合片坠落。

7.根据权利要求4所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在所述S3步骤和S4步骤之间还包括将切割后的聚晶金刚石复合片进行清洗,并将切割后的截止点进行标记。

8.根据权利要求1所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在S4步骤中,通过影像仪测量未切割的高度。

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