[发明专利]基于线切割检测脱钴深度的方法在审
申请号: | 201810189880.X | 申请日: | 2018-03-08 |
公开(公告)号: | CN108663312A | 公开(公告)日: | 2018-10-16 |
发明(设计)人: | 张彩琴 | 申请(专利权)人: | 苏州思珀利尔工业技术有限公司 |
主分类号: | G01N19/00 | 分类号: | G01N19/00;G01B21/18 |
代理公司: | 南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32297 | 代理人: | 陆明耀 |
地址: | 215126 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 脱钴 线切割 进给 聚晶金刚石复合片 标记线 检测 观察 火花 切割 电火花 预处理 金刚石端面 导电性 金刚石 切割线 测量 截止 监控 记录 | ||
1.基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、对脱钴后的聚晶金刚石复合片进行预处理,并在所述聚晶金刚石复合片的基体端面(1)上做至少一条标记线;
S2、沿所述标记线向金刚石端面(2)方向进行线切割,记录切割时电流和进给速度并观察火花大小;
S3、根据所述切割电流和进给速度以及火花大小,确认是否达到脱钴层;
S4、当达到脱钴层,测量截止切割线的两端到所述金刚石端面(2)的距离,并将该距离中的最小值认定为脱钴深度。
2.根据权利要求1所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在S1步骤中,所述对脱钴后的聚晶金刚石复合片进行预处理至少包括:对脱钴后的聚晶金刚石复合片的外圆、硬质合金端面及倒角进行加工、抛光和清洗。
3.根据权利要求2所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在S1步骤中,每条所述标记线的长度与所述基体端面的直径相同。
4.根据权利要求2所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在所述S2步骤中,所述聚晶金刚石复合片固定于所述线切割设备上并保持水平。
5.根据权利要求3所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在所述S3步骤中,当所述切割电流、进给速度和电火花大小稳定,则认定所述聚晶金刚石复合片导电性良好,未至脱钴层,反之,当所述切割电流为零,几乎无电火花且进给速度为0,则认定所述聚晶金刚石复合片在该深度的导电性为0,到达脱钴层。
6.根据权利要求4所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在S3步骤中,还通过承托或者磁吸防止所述聚晶金刚石复合片坠落。
7.根据权利要求4所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在所述S3步骤和S4步骤之间还包括将切割后的聚晶金刚石复合片进行清洗,并将切割后的截止点进行标记。
8.根据权利要求1所述的基于线切割检测脱钴深度的方法,其特征在于:在S4步骤中,通过影像仪测量未切割的高度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州思珀利尔工业技术有限公司,未经苏州思珀利尔工业技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810189880.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。