[发明专利]膜厚度测量方法和制造汽车的方法

说明书

本发明涉及膜厚度测量方法和制造汽车的方法。在一个方面中，提供一种膜厚度测量方法，该膜厚度测量方法能够在保持破坏性的测量方法可以获得高测量精度的优点的同时在短时间内测量涂膜的膜厚度。根据本实施方式的膜厚度测量方法是在包括有层状地层压的多个膜的涂膜10中测量各层1至4的膜厚度的膜厚度测量方法，该方法包括：处理步骤，用于对涂膜10进行切削处理使得涂膜10具有预定的倾斜度；以及测量步骤，用于通过测量由于切削处理而裸露的涂膜10的各层1至4的边界15a至15e的距离来导出各层1至4的膜厚度。

技术领域

本发明涉及一种膜厚度测量方法和一种制造汽车的方法，并且涉及例如一种测量包括有层状地层压的多个膜的涂膜的各层的膜厚度的膜厚度测量方法、以及一种制造汽车的方法。

背景技术

汽车的涂膜例如是多层膜，测量多层膜的各层的膜厚度的方法主要可以分为例如以破坏性的方式测量待测对象的破坏性的测量方法和以非破坏性的方式测量待测对象的非破坏性的测量方法。破坏性的测量方法例如是从涂布有待测涂膜的主体中切削样本，并通过放大显微镜直接测量其切削表面的方法。另一方面，例如在日本未经审查专利申请公报No.2015-178980中所公开的，非破坏性的测量方法是通过分析用照明光照射待测涂膜时的反射光的干涉光和通过分离照明光而获得的基准光来测量多层膜的各层的膜厚度的方法。

在破坏性的测量方法中，由于需要首先在涂膜的切削表面上进行打磨作为测量的准备，因此不能长时间进行测量。另一方面，在非破坏性的测量方法中，除非照明光在涂膜的每个层上反射，否则不能测量膜厚度。因此，可以测量的涂膜根据其类型而受到限制。此外，由于需要傅里叶变换等来分析干涉光，所以测量精度(空间分辨率)存在限制。考虑到这些问题，需要一种无论涂膜的类型如何都可以获得高测量精度并且可以在短时间内进行测量的膜厚度测量方法。

本发明是为了解决上述问题而作出的，其目的在于提供一种克服上述破坏性的测量方法的缺点的膜厚度测量方法，使得无论涂膜的类型如何都可以在保持上述破坏性的测量方法可以获得高测量精度的优点的同时在短时间内进行测量。

发明内容

根据本发明的一个方面的膜厚度测量方法是用于测量包括有多个层状地层压的膜的涂膜中的各层的膜厚度的膜厚度测量方法，该方法包括：处理步骤，用于对涂膜进行切削处理使得涂膜具有预定的倾斜度；以及测量步骤，用于通过测量由于切削处理而裸露的涂膜中的各层的边界的距离来导出各层的膜厚度。根据上述结构，无论涂膜的类型如何，都能够在保持破坏性的测量方法可以获得高测量精度的优点的同时在短时间内测量涂膜的各层的膜厚度。

此外，在测量步骤中，通过使用传感器进行感测来测量边界的距离。根据上述结构，能够以更高的测量精度测量膜厚度。

此外，在测量步骤中，当边界被显微镜的物镜聚焦时，边界的距离是边界沿物镜的光轴的方向的距离。根据上述结构，可以通过聚焦边界来测量膜厚度，由此能够在短时间内进行测量。

此外，在测量步骤中，当边界被显微镜的物镜聚焦时，边界的距离是边界被从物镜的光轴的方向观察时的距离。根据上述结构，能够测量在倾斜表面上放大的边界的距离并且以高精度进行测量。

根据本发明的一方面的制造汽车的方法包括以下步骤：通过上述膜厚度测量方法来测量包括有层状地层压在车体构件中的多个膜的涂膜中的各层的膜厚度；以及修补经过切削处理以测量膜厚度的部分。根据上述结构，无论涂膜的类型如何都能够在保持破坏性的测量方法可以获得高测量精度的优点的同时在短时间内测量车体上的涂膜的膜厚度。

根据本发明，能够提供一种膜厚度测量方法，在该膜厚度测量方法中，无论涂膜的类型如何，膜厚度测量方法都能够在保持破坏性的测量方法可以获得高测量精度的优点的同时在短时间内测量涂膜的膜厚度，以及一种制造汽车的方法。

本发明的以上及其他目的、特征和优点将通过下文给出的详细说明以及附图而变得被更充分地理解，附图仅处于说明目的而给出并且因此不被认为是限制本发明。