[发明专利]图像传感器及图像检测方法在审
申请号: | 201810190745.7 | 申请日: | 2018-03-08 |
公开(公告)号: | CN110248119A | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 熊斌;郑忱煜;李宝清;徐德辉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H04N5/335 | 分类号: | H04N5/335;H04N5/369;H04N5/33;H04N9/04 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素元件 红外传感器 图像传感器 细节信息 可见光传感器 光照条件 图像检测 像素阵列 不敏感 像素点 传统图像传感器 采集 图像 可见光图像 处理电路 多幅图像 红外图像 人眼观察 融合图像 图像融合 上表面 遮光层 补光 保留 | ||
本发明提供一种图像传感器及图像检测方法,包括:多个像素点形成的像素阵列,各像素点包括可见光传感器像素元件、红外传感器像素元件及设置于红外传感器像素元件上表面的红外遮光层;连接于像素阵列的处理电路。将可见光传感器像素元件采集到的图像与红外传感器像素元件采集到的图像融合,以获得一幅对光照条件变化不敏感同时又包含丰富细节信息的融合图像。本发明获得的图像对光照条件变化不敏感同时又包含足够细节信息,可以很好的保留多幅图像的细节信息,更加便于人眼观察;同时红外图像可有效的对可见光图像进行补光,解决传统图像传感器存在的问题,增加了图像传感器的应用领域和适用范围。
技术领域
本发明涉及图像采集领域,特别是涉及一种图像传感器及图像检测方法。
背景技术
图像传感器,是一种将光学图像转换成电子信号的设备,如今被广泛的用于相机、计算机和其他电子光学设备中。随着显示设备的大尺寸、高像素趋势,更快推动了图像传感器处理能力的提高。
传统的图像传感器包括CCD传感器和CMOS传感器。CCD传感器(Charge CoupledDevice,电荷藕合器件图像传感器),它使用一种高感光度的半导体材料制成,能把光线转变成电荷,通过模数转换器芯片转换成数字信号,数字信号经过压缩以后由相机内部的闪速存储器或内置硬盘卡保存,因而可以轻而易举地把数据传输给计算机,并借助于计算机的处理手段,根据需要来修改图像。CMOS传感器(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,互补金属氧化物半导体图像传感器)是一种典型的固体成像传感器,主要利用硅和锗这两种元素所做成的半导体,使其在CMOS上共存着带N(带-电)和P(带+电)级的半导体,CMOS传感器感光后这两个互补效应所产生的电流即可被处理芯片纪录和解读成影像。
但是,传统的图像传感器,无论CCD传感器还是CMOS传感器,在光照强度较低时会存在图像亮度缺乏、图像像素尺寸减小和灰度等级表现缺乏等问题,这些都会导致图像分辨率降低、对比度差和图像噪点增加等问题。
因此,如何改进传统的图像传感器在光照强度较低时的图像质量已成为本领域技术人员亟待解决的问题之一。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种图像传感器及图像检测方法,用于解决现有技术中传统的图像传感器在光照强度较低时的图像质量差的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种图像传感器,所述图像传感器至少包括:
多个像素点形成的像素阵列,各像素点包括至少一个可见光传感器像素元件、至少一个红外传感器像素元件及设置于所述红外传感器像素元件上表面的红外遮光层,所述像素阵列用于采集图像;
连接于所述像素阵列的处理电路,用于对所述像素阵列进行控制及信号处理。
优选地,所述红外遮光层的通带与其覆盖的红外传感器像素元件的工作波段一致。
优选地,所述可见光传感器像素元件的上表面设置有可见光遮光层。
优选地,所述可见光传感器像素元件与所述红外传感器像素元件水平并排设置。
更优选地,所述像素阵列还包括框架,所述框架设置于各像素元件的底面及侧面。
优选地,所述可见光传感器像素元件与所述红外传感器像素元件嵌套设置。
更优选地,所述可见光传感器像素元件为环状结构,套设于所述红外传感器像素元件的外侧面;或,所述红外传感器像素元件为环状结构,套设于所述可见光传感器像素元件的外侧面。
更优选地,所述像素阵列还包括框架,所述框架设置于各像素点的底面及侧面。
优选地,所述可见光传感器像素元件为电荷耦合元件或金属氧化物半导体元件。
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