[发明专利]电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体有效

专利信息
申请号: 201810191011.0 申请日: 2018-03-08
公开(公告)号: CN108667461B 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 羽田秀生;田中敦嗣 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H03M1/38 分类号: H03M1/38;H01L27/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 黄纶伟;于英慧
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电路 装置 物理量 测定 电子设备 以及 移动
【说明书】:

电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体,能够降低在逐次比较型的A/D转换电路中码移位对阿伦方差特性造成影响的可能性。电路装置(100)包含:码数据生成电路(110),其生成在时间上变化的码数据(CS);以及逐次比较型的A/D转换电路(120),其进行基于码数据(CS)的码移位,对输入信号(VIN)进行A/D转换。码数据生成电路(110)生成频率特性具有整形特性的误差数据(ERR),并将误差数据(ERR)转换为码数据(CS)。

技术领域

本发明涉及电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体等。

背景技术

以往,公知有通过逐次比较动作对输入信号的采样信号进行A/D转换的逐次比较型的A/D转换电路。在这样的A/D转换电路中,公知有通过使用在时间上变化的码数据进行码移位,来改善微分非线性(DNL:Differential Non Linearity)和积分非线性(INL:Integral Non Linearity)的方法。例如在专利文献1中公开了一种A/D转换电路,该A/D转换电路包含:比较电路;逐次比较用寄存器,其根据比较结果来更新寄存器值;第1D/A转换电路,其对寄存器值进行D/A转换;码数据生成电路,其生成在时间上变化的码数据;以及第2D/A转换电路,其对码数据进行D/A转换。

专利文献1:日本特开2010-263399号公报

在上述那样的A/D转换电路中,在对码数据进行D/A转换的D/A转换电路存在非线性的情况下,由该非线性导致的误差可能会进入到A/D转换数据中。码数据例如通过线性反馈移位寄存器(LFSR:Linear Feedback Shift Register)等生成,因此,由于该线性反馈移位寄存器的码循环一次的周期而使码数据产生周期性。于是,由于码数据的周期性而使A/D转换数据的误差产生周期性,可能成为特性频率的噪声成分。该特性频率的噪声成分可能对A/D转换电路的阿伦方差特性(例如比较长的τ的特性)造成影响。

发明内容

本发明是为了解决上述的课题的至少一部分而完成的,能够作为以下的方式或者形态而实现。

本发明的一个方式涉及一种电路装置,其包含:码数据生成电路,其生成在时间上变化的码数据;以及逐次比较型的A/D转换电路,其进行基于所述码数据的码移位,对输入信号进行A/D转换,所述码数据生成电路生成频率特性具有整形特性的误差数据,并将所述误差数据转换为所述码数据。

根据本发明的一个方式,生成频率特性具有整形特性的误差数据,将该误差数据转换为码数据,进行基于该码数据的码移位,对输入信号进行A/D转换。由此,能够使由码移位导致的A/D转换数据的误差成为与误差数据对应的误差,能够使A/D转换数据的误差具有整形特性。由于由码移位导致的A/D转换数据的误差具有整形特性,因此,在逐次比较型的A/D转换电路中,能够降低码移位对阿伦方差特性造成影响的可能性。

此外,在本发明的一个方式中,可以是,所述码数据生成电路通过将所述码数据转换为所述误差数据的函数的反函数,将所述误差数据转换为所述码数据。

这样,通过适当设定将码数据转换为误差数据的函数,能够使A/D转换数据的误差的频率特性与误差数据的频率特性相同(大致相同)。由此,能够对A/D转换数据的误差赋予整形特性。

此外,在本发明的一个方式中,可以是,所述A/D转换电路具有对所述码数据进行D/A转换的码数据用D/A转换电路,所述函数是基于所述码数据用D/A转换电路的转换特性的函数。

将码数据转换为误差数据的函数的反函数是将误差数据转换为码数据的函数。通过根据码数据用D/A转换电路的转换特性来设定将该码数据转换为误差数据的函数,能够使系统的误差传递函数大致为1(或者常数)。由此,由码移位导致的A/D转换数据的误差具有与误差数据相同(大致相同)的频率特性。

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