[发明专利]用于测试和测量仪器的并行触发模型在审

专利信息
申请号: 201810194332.6 申请日: 2018-03-09
公开(公告)号: CN108572290A 公开(公告)日: 2018-09-25
发明(设计)人: B.P.弗拉克尔顿;G.J.波莉 申请(专利权)人: 基思利仪器有限责任公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 毕铮;申屠伟进
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 测量仪器 测试 触发 并行 被测设备 处理器 关联 模型提供 配置
【权利要求书】:

1.一种测试和测量仪器,包括:

从被测设备接收信号的端口;以及

处理器,其被配置成,基于并行触发模型:

执行第一过程以使所述测试和测量仪器的第一功能性被执行,以及

执行第二过程以使所述测试和测量仪器的第二功能性在所述信号上执行,第二过程在第一过程的完成之前开始。

2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述测试和测量仪器是包括多个通道的数据采集单元,并且第一过程使数据采集单元在所述多个通道之间切换,并且第二过程使数据采集单元测量所述信号的特性。

3.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述测试和测量仪器是源测量单元,并且第一过程使源测量单元在要应用于被测设备的多个源之间切换,并且第二过程使源测量单元测量所述信号的特性。

4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中第一过程使所述测试和测量仪器执行第一类型的测量,并且第二过程使所述测试和测量仪器执行第二类型的测量。

5.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述处理器还被配置成响应于检测到并行触发模型包括第一过程和第二过程之间的重叠而生成错误消息。

6.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中为了执行第一过程和第二过程,所述处理器还被配置成,基于并行触发模型:

同时配置针对包括在第一过程中的第一类型的操作的初始配置和针对包括在第二过程中的第二类型的操作的初始配置;

根据第一类型的操作的初始配置来执行第一类型的操作;以及

根据第二类型的操作的初始配置来执行第二类型的操作。

7.根据权利要求6所述的测试和测量仪器,其中响应于第一类型的操作的完成而执行第二类型的操作。

8. 根据权利要求7所述的测试和测量仪器,其中所述处理器还被配置成,基于并行触发模型:

在根据初始配置执行第二类型的操作期间配置第一类型的操作的下一个配置;以及

响应于第二类型的操作的完成,而根据下一个配置来执行第一类型的操作。

9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中并行触发模型定义与第一过程关联的第一程序序列和与第二过程关联的第二程序序列。

10.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中并行触发模型使所述处理器独立于彼此地执行第一过程和第二过程。

11.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中并行触发模型协调第一过程内的程序与第二过程内的程序。

12.一种用于执行测试和测量仪器的第一功能性和第二功能性的方法,所述方法包括:

接收并行触发模型;

从被测设备接收信号;以及

基于并行触发模型,从开始时间到结束时间执行与第一功能性关联的第一过程;以及

基于并行触发模型,在所述信号上执行与第二功能性关联的第二过程,第二过程在第一过程的结束时间之前开始。

13.根据权利要求12所述的方法,其中第一过程是切换测试和测量仪器的电路,并且第二过程是测量所述信号的特性。

14.根据权利要求12所述的方法,其中第一过程和第二过程被独立地执行。

15.根据权利要求12所述的方法,其中第一过程和第二过程以一种或多种依赖性被执行。

16.根据权利要求12所述的方法,其中第一过程是第一类型的测量,并且第二过程是第二类型的测量。

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