[发明专利]一种智能型绝缘耐压测试电路在审

专利信息
申请号: 201810199346.7 申请日: 2018-03-12
公开(公告)号: CN108459245A 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: 苏亮;齐志坤;王向辉;尹馥玫;丁福利;王海林 申请(专利权)人: 北京四方继保自动化股份有限公司
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 北京金阙华进专利事务所(普通合伙) 11224 代理人: 吴鸿维
地址: 100085 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检测 绝缘耐压测试 电路 绝缘耐压 功率输出端口 被测试装置 单片机控制 单片机芯片 智能化设计 电力设备 电路设计 电路输出 工作效率 功率驱动 功率输出 检测电路 检测信息 绝缘测试 灵活配置 耐压测试 输出状态 数据维护 统一管理 组合设计 可信度 采样 电源 自动化 合并 试验
【权利要求书】:

1.一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:包括单片机控制部分,绝缘耐压功率驱动部分,功率输出部分,功率输出端口部分,输出状态采样部分和电源部分。

2.如权利要求1所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:单片机控制部分主要由单片机芯片、CPLD芯片及周边电路构成,其中所述CPLD芯片从属于单片机芯片,其功能在于执行单片机芯片发出的重复性较多的工作,并通过接口芯片连接绝缘耐压功率驱动部分。所述周边电路包括电源芯片、复位芯片、EEPROM存储芯片、晶振、通信芯片、总线控制芯片等维持单片机控制部分基本功能的硬件环境。

3.如权利要求1所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述绝缘耐压功率驱动部分与单片机控制部分的接口芯片连接,将单片机控制部分发出的SPI驱动信号通过隔离元件连接至DA芯片,将数字信号转换为交流模拟信号,经过隔直滤波后经运算放大后送至功率放大电路,由功率放大电路为功率输出部分提供交流驱动信号。

4.如权利要求1所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述功率输出部分由推挽电路及高压线性变压器构成,所述推挽电路是由PNP硅晶体管与NPN硅晶体管C级相连,PNP硅晶体管E级接高电平,NPN硅晶体管E级接低电平,考虑到驱动后级高压线性变压器电流较大,采用两个PNP并联,两个NPN并联方式连接,PNP硅晶体管与NPN硅晶体管C级相连后接入高压线性变压器原边一端,线性变压器原边另一端接NPN硅晶体管E级并接低电平,所述高压线性变压器由初级和次级两组线圈组成,两线圈分别有两引线输出,初级和次级线圈匝数比为1:100。

5.如权利要求4所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述功率输出端口部分连接所述高压线性变压器次级线圈两引线输出端,由交直流切换电路,输出通断电路、输出测量电路和漏电流检测电路组成。

6.如权利要求5所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述输出测量电路由运算放大器的负反馈放大电路构成,负反馈放大电路输入端接高压输出端口并联的多颗串联电阻,此并联在高压输出端的串联电阻主要起到串联分压的作用,负反馈放大电路在此处采得测量电压后,将该测量电压放大后送至输出状态采样部分。

7.如权利要求5所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述漏电流检测部分包括电阻、光耦隔离元件和高压继电器,输出端HV-串联连接两颗4.3kΩ-5w电阻后接入两组串联分压电阻,两组串联分压电阻阻值不同,用以实现毫安级和微安级漏电流测量,两组串联电阻中分别串入两个小型耐高压继电器常开触点,并有单片机通过两个光耦隔离元件对两个小型耐高压继电器进行控制,实现不同串联分压电阻的选通,两组串联分压电阻与两颗串联的4.3k-5W电阻间引出测量两电压接至由运算放大器构成的负反馈放大电路,并将测得的漏电流电压信号送至输出状态采样部分。

8.如权利要求1所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述输出状态采样部分由模拟量采集芯片构成主电路,负责采集功率输出端口部分中输出测量电路的输出电压及采集漏电流检测部分中的漏电流电压,并通过模数转换后送至单片机控制部分。

9.如权利要求1所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述输出电源部分为单片机控制部分,绝缘耐压功率驱动部分,功率输出部分,功率输出端口部分,漏电流检测部分,输出状态采样部分提供多种电源。

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