[发明专利]一种荧光氧化钼量子点测定痕量铀（Ⅵ）的方法有效
| 申请号： | 201810205403.8 | 申请日： | 2018-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN108680541B | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 肖赛金;楚曌君;刘云海;张志宾;戴荧;徐函 | 申请（专利权）人： | 东华理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 夏艳 |
| 地址： | 330013 江西*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 氧化钼 量子 测定 痕量 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种荧光氧化钼量子点测定痕量铀(Ⅵ)的方法，其特征在于，以荧光氧化钼量子点作为指示剂，通过铀(Ⅵ)加入前后的氧化钼量子点的荧光强度对铀(Ⅵ)进行定性和定量分析；
该荧光氧化钼量子点可对环境水样中的铀(Ⅵ)进行选择性检测；
包括以下步骤：
A、在硝酸介质中，pH 4.5-5.5，将铀(Ⅵ)加入氧化钼量子点并混匀后静置1-5分钟，最后以激发波长380-450nm、发射波长525nm、激发和发射狭缝10nm测定氧化钼量子点的荧光；
B、绘制硝酸铀酰离子的标准曲线；
C、根据测定的氧化钼量子点的荧光和标准曲线，计算得到痕量铀(Ⅵ)的含量。
2.如权利要求1所述的荧光氧化钼量子点测定痕量铀(Ⅵ)的方法，其特征在于，当硝酸铀酰浓度为1.04-16.64μM时，氧化钼量子点的荧光强度与其浓度呈很好的线性关系，线性方程为IF＝1261.6-582.9log(c)，相关系数R2＝0.99。
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