[发明专利]TCM老化检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 201810207096.7 申请日: 2018-03-14
公开(公告)号: CN108227682A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 肖胜强 申请(专利权)人: 深圳市奥德迈科技术有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02;G01R31/28;G01R31/00;G05B19/042
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 老化检测装置 待测模块 控制模块 电源模块 检测信号 显示信号 显示装置 老化 返修 不良信息 测试信号 测试信息 电源信号 记录存储 检测装置 老化测试 老化检测 单片机 检测 传送 发送 测试 转换 应用
【权利要求书】:

1.TCM老化检测装置,包括电源模块,待测模块的测试信息通过显示装置进行显示;

其特征在于:

所述电源模块的电源信号经过控制模块处理后产生多个测试信号测试所述待测模块得到多个检测信号;

多个所述检测信号经过CAN总线电路被获取后发送至所述控制模块被转换为显示信号,所述显示信号被传送至所述显示装置进行显示;

所述控制模块包括多个单片机,所述待测模块包括多个待测TCM板。

2.根据权利要求1所述的老化检测装置,其特征在于:

所述控制模块根据多个所述检测信号驱动继电器控制多个外部接口的开关。

3.根据权利要求2所述的老化检测装置,其特征在于:

所述显示装置包括缓存单元、限幅电路以及显示单元,所述检测信号经过所述缓存单元以及所述限幅电路处理后传输到所述显示单元进行显示;

所述显示单元包括多个三极管以及多个数码管。

4.根据权利要求3所述的老化检测装置,其特征在于:

所述三极管为PNP三极管,所述数码管为共阳极数码管;

所述三极管的发射极连接电源端,所述三极管的集电极与所述数码管的公共端连接,所述三极管的基极通过所述缓存单元以及所述限幅电路与所述控制模块上的输入输出口连接。

5.根据权利要求1至4任一项所述的老化检测装置,其特征在于:

所述测试信号包括车速测试信号、档位信号、模式信号、刹车信号、电磁阀通断信号、点火信号、油温信号以及压力信号。

6.根据权利要求5所述的老化检测装置,其特征在于:

当进行所述电磁阀通断信号检测时,多个所述待测TCM板的输出端与测试灯阵列连接,所述测试灯阵列由多个卤素灯泡组成,所述卤素灯泡设置在铝板支座上。

7.TCM老化检测方法,包括以下步骤,

步骤S1、设置老化参数;

步骤S2、根据所述老化参数生成多个测试信号对待测模块进行测试并获取检测信号;

步骤S3、根据所述检测信号显示检测信息;

其特征在于:

所述步骤S2包括电源信号经过控制模块处理后产生多个所述测试信号测试所述待测模块得到多个所述检测信号;

所述步骤S3包括多个所述检测信号经过CAN总线电路被获取后发送至所述控制模块被转换为显示信号,所述显示信号被传送至所述显示装置进行显示;

所述控制模块包括多个单片机,所述待测模块包括多个待测TCM板。

8.根据权利要求7所述的老化检测方法,其特征在于:

所述设置老化参数包括,设置进行老化测试的多个所述待测TCM板的数量以及每个所述待测TCM板的测试项目和测试顺序。

9.根据权利要求7至8任一项所述的老化检测方法,其特征在于:

所述测试信号包括车速测试信号、档位信号、模式信号、刹车信号、电磁阀通断信号、点火信号、油温信号以及压力信号。

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