[发明专利]一种低电阻泡沫金属的制备方法有效

专利信息
申请号: 201810208886.7 申请日: 2018-03-14
公开(公告)号: CN108300969B 公开(公告)日: 2020-02-25
发明(设计)人: 闫焉服;王广欣;傅山泓;杨文玲;高志廷;吴丹凤 申请(专利权)人: 河南科技大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/20
代理公司: 洛阳公信知识产权事务所(普通合伙) 41120 代理人: 魏新培
地址: 471000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 电阻 泡沫 金属 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种低电阻泡沫金属的制备方法,其特征在于:以聚氨酯泡沫为骨架,在聚氨酯泡沫上采用磁控溅射工艺制备Ni-Al-Ni三层结构复合膜,其中,聚氨酯泡沫骨架上Ni-Al-Ni复合膜的厚度为20~30μm;制备方法包括以下步骤:

步骤一、取聚氨酯泡沫进行预处理:清洗,并在KOH溶液中浸泡10~20min,然后采用去离子水清洗后,置于酒精中超声波清洗3~5min;

步骤二、在磁控溅射镀膜机上安装两块Al靶材,一块Ni靶材;

步骤三、以步骤一的聚氨酯泡沫为基片,在聚氨酯泡沫上镀打底Ni膜层;之后在打底Ni膜层上镀Al膜层,并在Al膜层上镀外Ni膜层;采用磁控溅射镀膜机镀Ni的参数为:功率为200~300W,气压为0.5~1Pa,偏压为50~200W;采用双靶磁控溅射共沉积法镀Al膜层,功率为300~500W,气压为0.5~1Pa,偏压为50~200W,时间为6h。

2.根据权利要求1所述的一种低电阻泡沫金属的制备方法,其特征在于:步骤三中,打底Ni膜层和外Ni膜层的厚度均为50~100nm。

3.根据权利要求1所述的一种低电阻泡沫金属的制备方法,其特征在于:设定自动工艺,功率每隔1h,直流电源有30~50W的上下移动。

4.根据权利要求1所述的一种低电阻泡沫金属的制备方法,其特征在于:双靶磁控溅射共沉积法的真空度保持在4.0×10-5 Pa以下。

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