[发明专利]存储器的测试方法在审
| 申请号： | 201810209621.9 | 申请日： | 2018-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN108346451A | 公开（公告）日： | 2018-07-31 |
| 发明（设计）人： | 任栋梁;钱亮 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试项目 存储器 判断结果 测试 合格品 测试稳定性 不合格品 产品良率 误判率 | ||
1.一种存储器的测试方法，所述存储器具有n个测试项目，n为大于等于1的整数，其特征在于，所述测试方法包括对测试项目i进行N次判断，其中，1≤i≤n，1≤N≤100，且i和N均为整数；
当i小于n时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格，则进入测试项目i+1的测试；当i等于n时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格，则判断所述存储器为合格品；
当N小于100时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效，则进行对所述测试项目i的第N+1次判断；当N等于100时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效，则判断所述存储器为不合格品。
2.如权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述测试方法在对测试项目i进行N次判断之前，还包括预先设置测试项目i的期望值。
3.如权利要求2所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述对测试项目i进行N次判断的步骤包括：
对所述测试项目i进行第1次实际测试，得到第1次实际测得值，对所述测试项目i进行第1次判断，若所述第1次实际测得值与所述测试项目i的期望值相同，则判断所测的测试项目i为合格；否则，对所述测试项目i进行第2次判断。
4.如权利要求3所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述期望值为数字信号。
5.如权利要求4所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述实际测得值为数字信号。
6.如权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，通过编程的方式对测试项目i进行N次判断。
7.如权利要求6所述的存储器的测试方法，其特征在于，套用if和elseif语句进行编程。
8.如权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述存储器为嵌入式闪存。
9.如权利要求8所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述测试项目包括读取测试项目、写入测试项目和擦除测试项目。
10.如权利要求9所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述测试项目i为读取测试项目。
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