[发明专利]低发散角的超辐射发光二极管结构有效
申请号: | 201810211539.X | 申请日: | 2018-03-14 |
公开(公告)号: | CN108447954B | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
发明(设计)人: | 郭文涛;谭满清;熊迪;赵亚利;曹营春;万丽丽;刘珩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/04 | 分类号: | H01L33/04;H01L33/14;H01L33/12;H01L33/30;H01L33/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤宝平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发散 辐射 发光二极管 结构 | ||
1.一种低发散角的超辐射发光二极管结构,包括:
一衬底;
一第一缓冲层,其制作在衬底上;
一无源波导芯层,其制作在第一缓冲层上;
一空间层,其制作在无源波导芯层上;
一应变量子阱结构,其制作在空间层上,所述应变量子阱结构为不掺杂的InGaAsP/InP应变量子阱结构,包括厚度为90nm的InP上下波导层、厚度为15nm的InP上下限制层和厚度为8nm的InGaAsP量子阱层,所述的上下波导层均采用折射率线性缓变的波导结构,能够解决缓冲层和上下波导层的晶格失配问题;
一第二缓冲层,其制作在应变量子阱结构上;
一电流阻挡层,其制作在应变量子阱结构上;
一欧姆接触层,其制作在电流阻挡层的上面,形成基片;
两个镀膜,其位于基片两端。
2.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中衬底的材料为n-InP;第一缓冲层的材料为n-InP,该第一缓冲层的厚度为0.3-0.7μm。
3.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中无源波导芯层的材料为n-InGaAsP,厚度为45-55nm;空间层的材料为n-InP,厚度为0.3-0.7μm。
4.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中第二缓冲层的材料为p-InP,厚度为0.8μm;电流阻挡层的材料为n-InP,厚度为0.9μm;欧姆接触层的材料为p-InP。
5.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中无源波导芯层与空间层形成非对称双波导结构,能够将有源区产生的光扩展到非对称波导层。
6.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中应变量子阱结构中的上下限制层为张应变结构,量子阱层为压应变结构,通过上下限制层的应变补偿,能够弥补晶格缺陷,提高器件的低阈值电流密度和高温特性,并能够提高电光转换效率。
7.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中基片两端的镀膜为增透膜,增透膜采用Ta2O5和SiO2高低折射率的膜系材料制备,增透膜的反射率能够从0.1%-3%减小至0.001%以下。
8.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中超辐射发光二极管的出射光与水平方向的夹角为10°-20°之间。
9.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中超辐射发光二极管的腔长为800μm-1200μm,包括直波导长度为600μm-700μm,弯曲波导长度为300μm-400μm,弯曲波导的曲率半径为3000μm-4000μm。
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