[发明专利]低发散角的超辐射发光二极管结构有效

专利信息
申请号: 201810211539.X 申请日: 2018-03-14
公开(公告)号: CN108447954B 公开(公告)日: 2020-03-17
发明(设计)人: 郭文涛;谭满清;熊迪;赵亚利;曹营春;万丽丽;刘珩 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04;H01L33/14;H01L33/12;H01L33/30;H01L33/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤宝平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 发散 辐射 发光二极管 结构
【权利要求书】:

1.一种低发散角的超辐射发光二极管结构,包括:

一衬底;

一第一缓冲层,其制作在衬底上;

一无源波导芯层,其制作在第一缓冲层上;

一空间层,其制作在无源波导芯层上;

一应变量子阱结构,其制作在空间层上,所述应变量子阱结构为不掺杂的InGaAsP/InP应变量子阱结构,包括厚度为90nm的InP上下波导层、厚度为15nm的InP上下限制层和厚度为8nm的InGaAsP量子阱层,所述的上下波导层均采用折射率线性缓变的波导结构,能够解决缓冲层和上下波导层的晶格失配问题;

一第二缓冲层,其制作在应变量子阱结构上;

一电流阻挡层,其制作在应变量子阱结构上;

一欧姆接触层,其制作在电流阻挡层的上面,形成基片;

两个镀膜,其位于基片两端。

2.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中衬底的材料为n-InP;第一缓冲层的材料为n-InP,该第一缓冲层的厚度为0.3-0.7μm。

3.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中无源波导芯层的材料为n-InGaAsP,厚度为45-55nm;空间层的材料为n-InP,厚度为0.3-0.7μm。

4.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中第二缓冲层的材料为p-InP,厚度为0.8μm;电流阻挡层的材料为n-InP,厚度为0.9μm;欧姆接触层的材料为p-InP。

5.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中无源波导芯层与空间层形成非对称双波导结构,能够将有源区产生的光扩展到非对称波导层。

6.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中应变量子阱结构中的上下限制层为张应变结构,量子阱层为压应变结构,通过上下限制层的应变补偿,能够弥补晶格缺陷,提高器件的低阈值电流密度和高温特性,并能够提高电光转换效率。

7.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中基片两端的镀膜为增透膜,增透膜采用Ta2O5和SiO2高低折射率的膜系材料制备,增透膜的反射率能够从0.1%-3%减小至0.001%以下。

8.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中超辐射发光二极管的出射光与水平方向的夹角为10°-20°之间。

9.根据权利要求1所述的低发散角的超辐射发光二极管结构,其中超辐射发光二极管的腔长为800μm-1200μm,包括直波导长度为600μm-700μm,弯曲波导长度为300μm-400μm,弯曲波导的曲率半径为3000μm-4000μm。

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