[发明专利]失效侦测系统及其方法

说明书

一种失效侦测系统包含一发光阵列，及一失效侦测装置，该发光阵列包括多个发光二极管单元，该失效侦测装置包括一驱动模块，及一判断模块，该驱动模块接收一指示一欲侦测发光二极管单元的坐标信号，该欲侦测发光二极管单元是该多个发光二极管单元之一，该驱动模块根据该坐标信号产生一驱动信号至该欲侦测发光二极管单元，该判断模块接收一选择信号，并根据该选择信号侦测来自该欲侦测发光二极管单元的输出端的一输出电压，该判断模块每隔一预定间隔的前后二时间点所侦测到的该输出电压的电压差值的大小产生一指示是否异常的状态信号。本发明失效侦测系统直接侦测该发光二极管单元的该输出电压，因此不需如现有的技术提供不同准位的预定电流值。

技术领域

本发明涉及一种系统及方法，特别是指能快速侦测发光二极管是否异常的失效侦测系统及其方法。

背景技术

现有的发光二极管失效侦测系统具有以下的缺点：

1.须提供二个不同准位的预定电流：如申请号US 2014/0097849 A1所揭示的发光二极管失效侦测系统，需先量测该串列的发光二极管接收一高准位的预定电流时的第一跨压，再量测该串列的发光二极管接收一低准位的预定电流时的第二跨压，并将根据该第一跨压与该第二跨压进行减法运算而得到一第一校准值，后续再重复上述的量测以得到一第二校准值，该发光二极管失效侦测系统再判断该第一校准值和该第二校准值的差值是否大于一基本值以判断该串列发光二极管是否故障。

2.无法快速更换维修：现有的发光二极管失效侦测系统只能侦测出该串列的发光二极管有故障，但却无法确切知道是哪一颗发光二极管故障。

3.增加成本：由于现有的发光二极管失效侦测系统无法知道是哪一颗发光二极管故障，因此，当检测到该串列的发光二极管故障时，仅能针对该串列的发光二极管逐一检测，而无法快速更换，以致造成时间成本提高。

发明内容

本发明的第一目的在于提供一种能不需提供不同准位的预定电流，就能明确地知道失效的发光二极管的位置坐标，而能马上更换维修的失效侦测系统。

本发明失效侦测系统包含一发光阵列及一失效侦测装置。

该发光阵列包括多个扫描线、多个数据线，及多个发光二极管单元。

该多个扫描线各自沿一第一方向设置。

该多个数据线各自沿一第二方向垂直设置于所述扫描线。

该多个发光二极管单元分别对应地设置于由该多个扫描线与该多个数据线所界定的矩阵间，每一发光二极管单元具有一电连接所对应的该扫描线的输入端及一电连接所对应的该数据线的输出端。

该失效侦测装置包括一驱动模块及一判断模块。

该驱动模块电连接该多个扫描线及该多个数据线间，且接收一指示一欲侦测发光二极管单元的坐标信号，该欲侦测发光二极管单元是该多个发光二极管单元的其中之一，该驱动模块根据该坐标信号产生一驱动信号至该欲侦测发光二极管单元。

该判断模块电连接每一发光二极管单元的输出端，且接收一指示哪一数据线的选择信号，该选择信号相关于该坐标信号，该判断模块根据该选择信号侦测来自该欲侦测发光二极管单元的输出端的一输出电压，并根据每隔一预定间隔的前后二时间点所侦测到的该输出电压的电压差值的大小产生一指示是否异常的状态信号。

本发明失效侦测系统，该失效侦测装置还包括

一控制单元，用于根据一相关于该欲侦测发光二极管单元的位置坐标产生该坐标信号及该选择信号，并电连接于该判断模块和该驱动模块间以接收来自该判断模块的该状态信号，该控制单元根据对应于该欲侦测发光二极管单元的该状态信号与该位置坐标，输出一判断结果。

本发明失效侦测系统，还包含

一显示器，电连接该控制单元以接收该判断结果，并显示该判断结果。