[发明专利]显示面板和显示测试装置

权利要求书

1.一种显示面板，包括：

阵列基板；

位于所述阵列基板上的测试器件，显示测试装置经由所述测试器件对所述显示面板的像素单元进行测试，其中，所述测试器件包括：第一测试衬垫、第二测试衬垫、第三测试衬垫和第四测试衬垫，其中，所述测试器件还包括：第一晶体管，第二晶体管以及像素驱动晶体管，其中，所述第一晶体管的控制极连接第一测试衬垫，第一极连接第二测试衬垫，第二极连接扫描信号线；所述第二晶体管的控制极连接第三测试衬垫，第一极连接第四测试衬垫，第二极连接数据信号线；所述像素驱动晶体管的控制极连接所述扫描信号线，第一极连接所述像素单元的像素电极，第二极连接所述数据信号线；

位于所述阵列基板上的连接状态检测器件，所述连接状态检测器件用于在对所述显示面板进行测试时检测所述显示测试装置与所述阵列基板的连接状态；

其中，所述第一测试衬垫被配置为接收第一信号，所述第二测试衬垫被配置为接收第二信号，所述第三测试衬垫被配置为接收第三信号，所述第四测试衬垫被配置为接收放电电平，其中，所述第一信号使所述第一晶体管导通，以将所述第二信号提供给所述像素驱动晶体管的控制极，以使得所述像素驱动晶体管导通，所述第三信号使所述第二晶体管导通，以向所述像素电极提供放电电平。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述连接状态检测器件包括：

第一检测衬垫，用于从所述显示测试装置接收检测信号；

第二检测衬垫，用于向所述显示测试装置发送基于所述检测信号的反馈信号；以及

导电部件，其将所述第一检测衬垫电耦接到所述第二检测衬垫。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其中，所述第一检测衬垫和/或所述第二检测衬垫作为所述阵列基板的对准标记。

4.根据权利要求2或3所述的显示面板，其中，所述阵列基板还包括：

衬底，

第一绝缘层，位于所述衬底上；

第一导电层，位于所述第一绝缘层上；

第二绝缘层，位于所述第一导电层上，其中，所述第二绝缘层具有暴露所述第一导电层的第一开口和第二开口，

其中，所述第一检测衬垫位于所述第二绝缘层上并经由所述第一开口连接到所述第一导电层，所述第二检测衬垫位于所述第二绝缘层上并经由所述第二开口连接到所述第一导电层，

其中，所述第一导电层的位于所述第一检测衬垫和所述第二检测衬垫之间的部分构成所述导电部件。

5.一种显示测试装置，其用于对权利要求1-4中任一项所述的显示面板进行测试，所述显示测试装置包括探头，其中，

所述探头具有连接状态检测探针和测试探针。

6.根据权利要求5所述的显示测试装置，其中，

所述连接状态检测探针从所述探头的表面突出的部分的长度小于所述测试探针从所述探头的表面突出的长度。

7.根据权利要求6所述的显示测试装置，其中，

所述测试探针沿所述突出的方向可压缩。

8.根据权利要求5或6所述的显示测试装置，还包括限位部件，用于将所述探头固定到第一位置或第二位置，

其中，在所述第一位置，所述连接状态检测探针和所述测试探针与待测试的显示面板接触；

在所述第二位置，所述连接状态检测探针和所述测试探针与所述显示面板分离。

9.根据权利要求8所述的显示测试装置，还包括阻尼部件，用于在所述探头在从第一位置变化到第二位置期间的中间位置提供阻尼，

其中，在所述中间位置，所述连接状态检测探针与所述显示面板分离且所述测试探针与所述显示面板接触。

10.根据权利要求9所述的显示测试装置，还包括轮轴，其中，

所述探头附接到所述轮轴的周向表面。