[发明专利]基于石墨烯插入层结构的氮化镓生长方法有效
申请号: | 201810218102.9 | 申请日: | 2018-03-16 |
公开(公告)号: | CN108428618B | 公开(公告)日: | 2020-06-16 |
发明(设计)人: | 张进成;许新鹏;陈智斌;宁静;王东;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 田文英;王品华 |
地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 石墨 插入 结构 氮化 生长 方法 | ||
1.一种基于石墨烯插入层结构的氮化镓生长方法,其特征在于,在α面的蓝宝石衬底上磁控溅射氮化铝薄膜,在磁控溅射氮化铝薄膜上转移石墨烯,采用金属有机物化学气相淀积法,在石墨烯上依次外延脉冲氮化铝、低温氮化镓和高温氮化镓,该方法的具体步骤包括如下:
(1)磁控溅射氮化铝:
(1a)将α面的蓝宝石衬底置于磁控溅射系统中,反应室压力为1Pa,通入氮气和氩气5min,得到处理后的α面的蓝宝石衬底;
(1b)采用磁控溅射的方法,以99.999%纯度的铝为靶材,在处理后的α面的蓝宝石衬底上磁控溅射氮化铝,磁控溅射氮化铝的厚度为10-100nm,得到磁控溅射氮化铝基板;
(2)转移石墨烯:
(2a)采用化学气相淀积法,在金属衬底上生长厚度为0.34-3.4nm石墨烯;
(2b)将生长石墨烯的金属衬底置于1mol/L氯化铁和2mol/L盐酸的混合溶液中12小时去除金属衬底,得到去除金属衬底的石墨烯;
(2c)将去除金属衬底的石墨烯转移到磁控溅射氮化铝基板上,得到覆盖石墨烯的基板;
(3)对基板进行热处理:
(3a)将覆盖石墨烯的基板置于金属有机物化学气相淀积反应室中,向反应室内通入氢气和氨气4min,对覆盖石墨烯的基板进行处理,得到气体处理后的覆盖石墨烯的基板;
(3b)将反应室温度升到620℃后,再对气体处理后的覆盖石墨烯的基板进行热处理,得到热处理后的基板;
(4)生长脉冲氮化铝:
将反应室压力调至40Torr,温度升到1060℃,通入氢气、氨气和铝源,其中氢气流量为800-1000sccm,氨气流量为2000-3000sccm,铝源流量为6-20μmol/L,采用脉冲金属有机物化学气相淀积法,在热处理后的基板上生长脉冲氮化铝,得到脉冲氮化铝基板;
(5)生长低温氮化镓:
保持反应室压力不变,将温度降到900℃,通入氢气、氨气和镓源,其中氢气流量为800-1000sccm,氨气流量为2000-3000sccm,镓源流量为60-120μmol/L,采用金属有机物化学气相淀积法,在脉冲氮化铝基板上生长低温氮化镓,低温氮化镓厚度为20-500nm,得到低温氮化镓基板;
(6)生长高温氮化镓:
(6a)保持反应室压力不变,将温度升到950℃,通入氢气、氨气和镓源,其中氢气流量为800-1000sccm,氨气流量为2000-3000sccm,镓源流量为60-120μmol/L,采用金属有机物化学气相淀积法,在低温氮化镓基板上生长高温氮化镓;
(6b)将反应室温度降至室温后取出样品,得到基于石墨烯插入层结构的氮化镓。
2.根据权利要求1所述的基于石墨烯插入层结构的氮化镓生长方法,其特征在于,步骤(1a)中所述的氮气流量为20-100sccm,氩气流量为40-200sccm。
3.根据权利要求1所述的基于石墨烯插入层结构的氮化镓生长方法,其特征在于,步骤(3a)中所述的氢气流量为800sccm,氨气流量为3000sccm。
4.根据权利要求1所述的基于石墨烯插入层结构的氮化镓生长方法,其特征在于,步骤(3b)所述的热处理的时间为15-30min。
5.根据权利要求1所述的基于石墨烯插入层结构的氮化镓生长方法,其特征在于,步骤(4)中所述脉冲金属有机物化学气相淀积法是指在一个脉冲周期T1+T2内,在T1时间内通入氨气,在T2时间内不通入氨气;所述的T1时间设置为12s,T2时间设置为6s,脉冲周期重复的次数为80-200次。
6.根据权利要求1所述的基于石墨烯插入层结构的氮化镓生长方法,其特征在于,步骤(4)中所述脉冲氮化铝的厚度为10-40nm。
7.根据权利要求1所述的基于石墨烯插入层结构的氮化镓生长方法,其特征在于,步骤(6a)中所述的高温氮化镓厚度为600-2000nm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造