[发明专利]光模块及其APD电压调整方法

说明书

本发明涉及了一种光模块及其APD电压调整方法，所述光模块包括：微处理器、电压转换电路和APD接收器，其中，所述微处理器对所述APD接收器所获得的APD电压进行采样，确定APD电压采样值；根据所述APD电压采样值测试所述光模块的灵敏度，如果所述光模块的灵敏度不达标，则调整输入至所述电压转换电路的APD设置电压；所述电压转换电路基于所接收到的所述APD设置电压确定APD目标电压，将所述APD目标电压输入至所述APD接收器。采用本发明所提供的光模块及其APD电压调整方法能够使光模块具有最佳灵敏度而不至于损坏APD接收器。

技术领域

本发明涉及光纤通信技术领域，尤其涉及一种光模块及其APD电压调整方法。

背景技术

随着光纤通信技术的飞速发展，光纤通信中的重要组成部分——光模块的应用场景越来越复杂，用户对光模块的光参数指标也要求越来越高，尤其是光模块的灵敏度(Sensitivity,SEN)。

光模块的灵敏度，是指光模块中光接收电路允许接收的最小光功率。应当理解，光信号在传输过程中随着传输距离越长光功率损耗越大，传输距离越长对灵敏度的要求也越高。

为了获得光模块的最佳灵敏度，通常，光模块中的微处理器会把APD接收器(Avalanche Photodiode，雪崩光电二极管)的APD电压控制在雪崩点附近，此时APD接收器的倍增因子较大，很小的光功率即可得到较大的光电流。

然而，一旦输入至APD接收器的光功率很大时，过大的光电流将导致APD接收器损坏。

因此，如何使光模块具有最佳灵敏度而不至于损坏APD接收器亟待解决。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的一个目的在于提供一种光模块及其APD电压调整方法。

其中，本发明所采用的技术方案为：

一种光模块，包括：微处理器、电压转换电路和APD接收器，其中，所述微处理器对所述APD接收器所获得的APD电压进行采样，确定APD电压采样值；根据所述APD电压采样值测试所述光模块的灵敏度，如果所述光模块的灵敏度不达标，则调整输入至所述电压转换电路的APD设置电压；所述电压转换电路基于所接收的所述APD设置电压确定APD目标电压，将所述APD目标电压输入至所述APD接收器。

一种APD电压调整方法，应用于光模块，所述光模块包括：微处理器、电压转换电路和APD接收器，所述方法包括：所述微处理器对所述APD接收器所获得的APD电压进行采样，确定APD电压采样值；根据所述APD电压采样值测试所述光模块的灵敏度，如果所述光模块的灵敏度不达标，则调整输入至所述电压转换电路的APD设置电压；所述电压转换电路基于所接收的所述APD设置电压确定APD目标电压，将所述APD目标电压输入至所述APD接收器。

在上述技术方案中，通过微处理器对APD接收器所获得的APD电压进行采样，确定APD电压采样值，根据APD电压采样值测试光模块的灵敏度，并在光模块的灵敏度不达标时，调整输入电压转换电路的APD设置电压，进而由电压转换电路基于所接收的APD设置电压确定APD目标电压，将APD目标电压输入至APD接收器，由此，输入至APD接收器的APD目的电压即为调整后的APD电压，随着APD电压的不断调整，光模块的灵敏度将随之调整至最佳。

此外，在输入至APD接收器的光功率很大时，随着APD电压的调整，输入至APD接收器的光电流不至于过大，进而有效地保证了APD接收器不会因过大的光电流而被损坏。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并于说明书一起用于解释本发明的原理。