[发明专利]一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置及方法

说明书

本发明公开了一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置及方法，装置包括：检测台，检测台用于承载待检测的透明平板；所述检测台固定连接有照明装置、且两个照明装置分别位于检测台的相邻两侧；照明装置发射出的线性光源平行于透明平板，并穿过透明平板；在检测台的上方设置有图像采集装置，用于向下采集透明平板在通过照明装置的二维侧向照光之后的图像。方法包括：根据缺陷处的折射率与透明平板的折射率不同而产生全反射或折射，在图像处理阶段根据灰度值的变化梯度来确定缺陷的存在，由机器视觉技术进行快速高效处理判别。本发明能够精确的检测出透明平板是否存在细小微小的缺陷，对缺陷位置进行准确地定位。

技术领域

本发明涉及透明平板的缺陷检测，对于透明平板中的裂纹、气泡等缺陷检测效果特别适用，尤其适用于电子设备用到的透明平板缺陷检测方面。

背景技术

随着技术的进步，现在的产品都是在往精品的方向发展，人们对产品的要求也越来越高，产品设计者也更加注重用户体验。透明平板材料不管是用来装饰，还是用来做电子设备的屏幕或者保护层更是需要严格把控产品质量。人们在对透明平板缺陷检测的时候通常会想到利用光源进行辅助检测，这样检测的效果会比较好。

通常的照明方式，采用背照光方式中的正透视的照明方式，采用基于灰度直方图的阈值分割算法和边缘检测图像分割算法相结合，比较理想的将气泡裂纹缺陷从透明平板背景中分割出来，形成完整的缺陷目标。

例如：周波等人2017年08月01日公布的《一种玻璃基板内缺陷检测方法及装置(公开号：CN106996937A)》，采用的背照光方式，将光源和摄像装置分别设置在待检测玻璃基板板面的相对两侧。

同样，郑媛等人在2010年公布的《用于检测透明基板表面和/或其内部的缺陷的方法及系统(公开号：CN101887030A)》，公开了一种多个光源多个检测通道的检测方法，采用背照光方式中的透视照明方式，该方式用于检测比较明显的缺陷效果，但对于细小微小的缺陷，容易产生漏检，并且装置也比较复杂。

而本方法是目前还没有人提出的一种基于二维侧向入射光的透明平板缺陷检测方法，这种基于侧向入射光的方法可以检测非常细小微小的缺陷，满足人们对产品品质更高的要求。

发明内容

本发明提供了一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置及方法，本发明能够精确的检测出透明平板是否存在细小微小的缺陷，并通过图像处理对缺陷位置进行准确地定位，详见下文描述：

一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置，所述装置包括：检测台，

所述检测台用于承载待检测的透明平板；所述检测台固定连接有照明装置、且两个照明装置分别位于检测台的相邻两侧；

照明装置发射出的线性光源平行于透明平板，并穿过透明平板；在检测台的上方设置有图像采集装置，用于向下采集透明平板在通过照明装置的二维侧向照光之后的图像。

其中，所述图像采集装置为一个时，具有可移动功能；所述图像采集装置为多个时，为固定的模式，从多个角度采集待检测透明平板的图像。

进一步地，所述照明装置用于提供二维侧向光源，包括：光源支架，

在所述光源支架上设置有光源高度调节运动机构和光源强度调节电路，光源高度调节运动机构上设置有光源水平调节运动机构，光源强度调节电路连接光源。

优选地，所述光源的亮度可调、以及光源的水平位置和垂直位置可调，用于将平行光线入射进待检测透明平板中。

优选地，所述光源采用短波光源，利于微小缺陷的检测。

具体实现时，相邻两侧的光线从透明平板相邻两侧射入，从相对的另外两侧射出。

一种基于二维光照的透明平板缺陷检测方法，所述检测方法包括以下步骤：