[发明专利]一种基于三维标注的产品验收尺寸要求定义系统及方法有效
申请号: | 201810223937.3 | 申请日: | 2018-03-19 |
公开(公告)号: | CN108460222B | 公开(公告)日: | 2022-03-04 |
发明(设计)人: | 张金 | 申请(专利权)人: | 北京电子工程总体研究所 |
主分类号: | G06F30/12 | 分类号: | G06F30/12;G06T19/00 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 三维 标注 产品 验收 尺寸 要求 定义 系统 方法 | ||
1.一种基于三维标注的产品验收尺寸要求定义系统,其特征在于,包括检验类型定义模块、检验内容审查模块和检验尺寸报表生成模块;
其中,所述检验类型定义模块用于从三维标注的产品模型中选择需要定义的检验尺寸标注,给三维标注增加其“检验类型”属性并定义其检验类型;
所述检验内容审查模块用于通过全部或按检验类型高亮显示和显隐控制检验尺寸标注,基于产品模型审查检验类型定义的完整性;
所述检验尺寸报表生成模块用于检索“检验类型”属性,提取和输出产品模型的检测尺寸信息,按照指定格式要求基于三维标注自动生成检验尺寸报表;
所述检验类型包括普通检验尺寸、首件检验尺寸和抽检检验尺寸;
所述检验尺寸信息包括尺寸公差类型、名义尺寸或公差值、上下偏差、参考基准、标注视图、检验类型。
2.一种基于三维标注的产品验收尺寸要求定义方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)从三维标注的产品模型中选择需要定义的检验尺寸标注,给三维标注增加其“检验类型”属性并定义其检验类型;
2)通过全部或按检验类型高亮显示和显隐控制已经定义的检验尺寸标注,基于产品模型审查检验类型定义的完整性;
3)检索“检验类型”属性,提取和输出产品模型的检测尺寸信息,按照指定格式要求基于三维标注自动生成检验尺寸报表;
其中,所述检验类型包括普通检验尺寸、首件检验尺寸和抽检检验尺寸;所述检验尺寸信息包括尺寸公差类型、名义尺寸或公差值、上下偏差、参考基准、标注视图、检验类型。
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