[发明专利]热障抗烧蚀涂层缺陷的红外热像检测方法

权利要求书

1.一种热障抗烧蚀涂层缺陷的红外热像检测方法，其特征在于，所述红外热像检测方法包括如下步骤：

试样制备步骤，采用与待测试件的热障抗烧蚀涂层相同的制备工艺制备标准试样，所述标准试样的热障抗烧蚀涂层的结构与所述待测试件的热障抗烧蚀涂层的结构相同且均为多层结构，所述标准试样的热障抗烧蚀涂层中预设有模拟一种工艺缺陷的人工缺陷，所述标准试样的设置有热障抗烧蚀涂层的基体的材质与所述待测试件的设置有热障抗烧蚀涂层的基体的材质相同；

试样检测步骤，在多个红外热像检测系统的检测参数下，分别利用所述红外热像检测系统对所述标准试样的热障抗烧蚀涂层依次进行主动热激励、提取热像序列数据、对所述热像序列数据进行处理以获得所述标准试样的热障抗烧蚀涂层的第一检测成像结果，检测参数包括：主动热激励时的输出功率、红外热图像的采集时间或帧数、帧频；

参数确定步骤，根据预设的人工缺陷尺寸与多个所述第一检测成像结果中所显示的人工缺陷尺寸，确定检测所述一种工艺缺陷所需的所述红外热像检测系统的最优化检测参数；和

试件检测步骤，基于所述最优化检测参数下的红外热像检测系统，对所述待测试件的热障抗烧蚀涂层进行检测以获得所述待测试件的热障抗烧蚀涂层的第二检测成像结果，并与在所述最优化检测参数下获得的第一检测成像结果进行对比，分析并定量判断所述待测试件的热障抗烧蚀涂层的所述一种工艺缺陷的质量状态。

2.根据权利要求1所述的红外热像检测方法，其特征在于，所述待测试件的热障抗烧蚀涂层的工艺缺陷有M种，在所述试件检测步骤之前还包括：参数再确定步骤，针对(M-1)种工艺缺陷中的每一种分别执行所述试样制备步骤、试样检测步骤、参数确定步骤，以确定所述(M-1)种工艺缺陷分别所需的所述红外热像检测系统的最优化检测参数；

所述试件检测步骤基于M种工艺缺陷分别所需的所述红外热像检测系统的最优化检测参数下的红外热像检测系统，分别对所述待测试件的热障抗烧蚀涂层进行检测以获得所述待测试件的热障抗烧蚀涂层的M个第二检测成像结果，并与各自对应的所述最优化检测参数下获得的第一检测成像结果进行对比，分析并定量判断所述待测试件的热障抗烧蚀涂层的M种工艺缺陷的质量状态；

其中，M为≥2的自然数。

3.根据权利要求1所述的红外热像检测方法，其特征在于，M＝3，3种工艺缺陷分别为：夹杂、分层和脱粘；

所述待测试件的热障抗烧蚀涂层的结构为4层结构。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的红外热像检测方法，其特征在于，所述待测试件的热障抗烧蚀涂层中至少有两层的材质分别为金属粉末和金属粉末与隔热非金属粉末组成的复合粉末。

5.根据权利要求1所述的红外热像检测方法，其特征在于，所述检测参数还包括：所述标准试样的涂层材质扩散率和涂层厚度。

6.根据权利要求1所述的红外热像检测方法，其特征在于，所述红外热像检测系统包括：主动热激励子系统、红外热图像采集子系统和热像分析子系统；

所述主动热激励子系统设置于待检件的上方，用于对所述待检件的热障抗烧蚀涂层进行主动热激励；

所述红外热图像采集子系统设置于所述待检件的上方，用于提取所述待检件的热障抗烧蚀涂层的热像序列数据；

所述热像分析子系统与所述主动热激励子系统和所述红外热图像采集子系统连接，用于接收检测参数，还用于对所述热像序列数据进行处理以获得所述待检件的热障抗烧蚀涂层的检测成像结果；

其中，所述检测参数用于使所述主动热激励子系统和所述红外热图像子系统按照所述检测参数运行，所述待检件为标准试样或待测试件。

7.根据权利要求6所述的红外热像检测方法，其特征在于，所述主动热激励子系统包括：脉冲闪光灯和与所述脉冲闪光灯连接的功率信号控制器；

所述功率信号控制器用于控制所述脉冲闪光灯的有效功率在3200J～12800J范围内调整。