[发明专利]测试量子产率的方法

说明书

本发明涉及测试量子产率的方法，包括：提供折射率为n_s的第一溶剂，将待测物质溶解在其中形成待测液；得到待测物质的吸光度A_s；使用波长λ₁的第一激发光对待测液进行测试，得到其发射峰积分面积F_s和将发射峰积分面积F_s二等分的等效波长λ_s；在波长λ₁处，获得第一激发光光强I_s；提供多种标准物质，根据多种标准物质各自的量子产率QY_r、激发波长λ₂、在多个激发波长λ₂处的多个第二激发光光强I_r、吸光度A_r、发射峰积分面积F_r得到测试装置的多个灵敏度C值；得到将发射峰积分面积F_r二等分的等效波长λ_r，由多个C值和相应的等效波长λ_r建立灵敏度计算式C＝f(λ)；由等效波长λ_s和灵敏度计算式得到相应的灵敏度C_s；待测物质的量子产率QY_s由下式得出：

技术领域

本申请属于量子点领域，特别是涉及一种测试量子产率的方法。

背景技术

荧光材料的量子产率是其重要的参数。从理论上讲，量子产率为发射总光子数与吸收总光子数的比值。目前，测定量子产率的直接方法例如有积分球法等，这些方法需要专业的设备，在普通实验室中难以进行。

测定量子产率的间接方法有传统光谱参比法，该方法简单、速度快，但是这种方法测试结果不准确。为此，需要一种新的测试方法。

发明内容

针对上述技术问题，本申请提供一种测试量子产率的方法。根据本发明的方法属于间接方法，易于在普通实验室中进行。此外，本发明的方法对激发光源进行了修正，从而提高了测试结果的准确性。

根据本发明的测试量子产率的方法，包括以下步骤：提供折射率为n_s的第一溶剂，将待测物质溶解在第一溶剂中形成待测液；得到待测物质的吸光度A_s；使用波长λ₁的第一激发光对待测液进行测试，得到待测物质的发射峰积分面积F_s和将发射峰积分面积F_s二等分的等效波长λ_s；在波长λ₁处，获得第一激发光光强I_s；提供多种标准物质，根据多种标准物质各自的量子产率QY_r、激发波长λ₂、在多个激发波长λ₂处的多个第二激发光光强I_r、吸光度A_r、发射峰积分面积F_r得到测试装置的多个灵敏度C值；得到将发射峰积分面积F_r二等分的等效波长λ_r，由多个C值和相应的等效波长λ_r建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)；由等效波长λ_s和灵敏度计算式得到对应于等效波长λ_s的灵敏度C_s；待测物质的量子产率QY_s由下式得出：

本发明的方法借助于标准物质对待测物的量子产率进行了测试，属于间接测试方法。在测试过程中无需专业设备，在普通实验室中就能方便地进行。此外，相比于现有技术，在本发明的方法中，含有激发光源的发光强度的计算项I_r、I_s，而且还使用多种标准物质计算拟合得到了测试装置的灵敏度计算式。特别是在得到灵敏度计算式的过程中，使用等效波长λ_r将标准物质的发射峰的面积校正为左右对称，从而通过灵敏度计算式获得对应于等效波长λ_s的灵敏度C_s更加准确。由此，在计算待测物质的量子产率时，考虑了影响测试结果的多种因素，进而提高了测试结果的准确性。