[发明专利]测试量子产率的方法有效

专利信息
申请号: 201810224055.9 申请日: 2018-03-19
公开(公告)号: CN108562562B 公开(公告)日: 2021-03-02
发明(设计)人: 王允军;孙雅娟;李敬群 申请(专利权)人: 苏州星烁纳米科技有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215123 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测试 量子 方法
【权利要求书】:

1.测试量子产率的方法,包括以下步骤:

提供折射率为ns的第一溶剂,将待测物质溶解在所述第一溶剂中形成待测液,得到所述待测物质的吸光度As

使用波长λ1的第一激发光对所述待测液进行测试得到所述待测物质的发射峰积分面积Fs和发射峰波长λs

在所述波长λ1处,获得第一激发光光强Is

提供多种标准物质,得到所述多种标准物质各自的发射峰波长λr,并且根据所述多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个所述激发波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值;

首先一种标准物质对应测试装置的灵敏度参数C值的计算方法如下,提供折射率为nr的第二溶剂,将一种标准物质溶解在所述第二溶剂中形成标准液,得到所述标准物质的吸光度Ar

使用激发波长λ2的第二激发光对所述标准液进行测试,得到所述标准物质的发射峰积分面积Fr和发射峰波长λr

在所述激发波长λ2处获得第二激发光光强Ir

测试装置的一个灵敏度

然后对多种标准物质分别进行测试,获得所述测试装置的多个C值;将所述多个C值和相应的发射峰波长λr拟合得到所述测试装置的灵敏度计算式C=f(λ);

由所述发射峰波长λs和所述灵敏度计算式得到对应于所述发射峰波长λs的灵敏度Cs

所述待测物质的量子产率QYs由下式得出:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述拟合为最小二乘法。

3.根据权利要求1到2中任一项所述的方法,其特征在于,将所述Fr缩放以使灵敏度Cs值处于0-20之间;所述Fs缩放的倍数与所述Fr缩放的倍数相同。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一激发光和所述第二激发光由同一连续光源得到。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,将所述连续光源的光强以预定波长处的光强为基准进行归一化处理,

所述第一激发光光强Is和第二激发光光强Ir为归一化处理后的数值。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述预定波长为波长λ1

7.根据权利要求1-2、4-6中任一项所述的方法,其特征在于,所述波长λ1为370nm或450nm。

8.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述波长λ1为370nm或450nm。

9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述标准物质为以下化合物中的一种:

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述第一溶剂和所述第二溶剂各自为水、乙醇、甲苯、氯仿、正庚烷、正己烷、正辛烷中的一种。

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