[发明专利]一种有机薄膜杨氏模量标准化测算方法有效
| 申请号： | 201810225203.9 | 申请日： | 2018-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN108507892B | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 钟高余;叶飞;李杰;闫伟青;王虞焱 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G01N3/42 | 分类号： | G01N3/42 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 陆飞;陆尤 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 有机 薄膜 杨氏模量 标准化 测算 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种有机薄膜杨氏模量标准化的测算方法，其特征在于，具体步骤为：
（1）利用纳米压痕仪对有机薄膜进行单次加载-卸载测试，得到该有机薄膜的单次载荷曲线；
（2）应用描述分子间力和分子间距关系的罗纳德-琼斯势理论，通过推导卸载曲线中的载荷与压入深度的关系来解释载荷曲线，并对载荷曲线进行拟合，得到拟合参数；
（3）根据理论推导得到有机薄膜杨氏模量和载荷压入深度的关系式，以及拟合参数，确定不同压入深度下有机薄膜的杨氏模量值；
步骤（2）中，根据罗纳德-琼斯势理论得到的，用于拟合卸载曲线的公式为：
式中，F为卸载曲线中的载荷，h为卸载曲线中的压入深度，hm为受力为零时的压入深度，ε为待拟合的参数：势阱深度，rm为待拟合的参数：实际参与形变的薄膜在平衡状态下的厚度；
步骤（3）中，所述卸载曲线中，压入深度与薄膜杨氏模量关系的计算公式为：
其中，E为有机薄膜杨氏模量，h为实际压入深度，hm为受力为零时的压入深度，rm为参与形变薄膜在平衡态下的厚度，E0为平衡状态下的杨氏模量，其表达式为：
其中，D为测量卸载曲线所用纳米压痕仪压头的直径。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于复旦大学，未经复旦大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810225203.9/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：纳米压痕/刻划测试装置
- 下一篇：冲蚀装置以及试样冲蚀磨损速率测量设备
