[发明专利]图像处理方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种图像处理方法，包括：

检测图像中的处理对象所对应的多个关键点；

根据所述多个关键点确定所述图像中与所述处理对象相对应的待处理区域，其中，所述待处理区域的区域形状、区域轮廓以及区域范围根据所述处理对象的各个关键点进行确定；

针对所述图像中的每个像素点，判断该像素点是否属于所述待处理区域；若是，按照预设的对象处理规则对该像素点进行处理；其中，所述待处理区域进一步包括：目标处理区域以及环境处理区域；则所述根据所述多个关键点确定所述图像中包含的与所述处理对象相对应的待处理区域的步骤具体包括：

根据所述多个关键点确定所述图像中包含的与所述处理对象相对应的目标处理区域；

根据所述目标处理区域确定位于所述目标处理区域外围的环境处理区域；

并且，所述对象处理规则进一步包括：目标处理规则以及环境处理规则；且所述按照预设的对象处理规则对该像素点进行处理的步骤具体包括：

判断该像素点是否属于所述目标处理区域；若是，按照所述目标处理规则对该像素点进行处理；若否，按照所述环境处理规则对该像素点进行处理；

其中，所述方法进一步包括：

预先确定当像素点到目标圆心的距离不大于目标横轴的长度时，像素点的变形系数与该像素点到目标圆心的距离之间的第一映射关系，且所述目标处理规则根据该第一映射关系确定；

预先确定当像素点到目标圆心的距离大于目标横轴的长度时，像素点的变形系数与该像素点到目标圆心的距离之间的第二映射关系，且所述环境处理规则根据该第二映射关系确定，其中，所述像素点的变形系数为所述像素点沿所述像素点到所述目标圆心方向的变形系数。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述待处理区域为椭圆形待处理区域，且所述椭圆形待处理区域通过椭圆圆心、椭圆横轴和椭圆纵轴确定。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述针对所述图像中的每个像素点，判断该像素点是否属于所述待处理区域的步骤具体包括：

针对所述图像中的每个像素点，判断该像素点与所述椭圆圆心之间的距离是否大于所述椭圆横轴的长度；

若否，确定该像素点属于所述待处理区域。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述目标处理区域为椭圆形目标处理区域，所述环境处理区域为位于所述椭圆形目标处理区域外围的椭圆环状环境处理区域；

所述根据所述多个关键点确定所述图像中包含的与所述处理对象相对应的目标处理区域的步骤具体包括：

根据所述多个关键点确定目标圆心以及经过所述目标圆心的目标横轴和/或目标纵轴，根据所述目标圆心以及经过所述目标圆心的目标横轴和/或目标纵轴确定所述椭圆形目标处理区域；

所述根据所述目标处理区域确定位于所述目标处理区域外围的环境处理区域的步骤具体包括：

将所述目标圆心确定为所述椭圆圆心，根据所述目标横轴和/或目标纵轴确定所述椭圆横轴和/或椭圆纵轴，根据所述椭圆圆心、椭圆横轴以及椭圆纵轴确定所述椭圆形待处理区域；根据所述椭圆形待处理区域以及所述椭圆形目标处理区域确定位于所述椭圆形目标处理区域外围的椭圆环状环境处理区域。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述椭圆形目标处理区域为圆形目标处理区域，且所述椭圆环状环境处理区域为圆环状环境处理区域；其中，所述目标横轴的长度与所述目标纵轴的长度相同，且所述椭圆横轴的长度与所述椭圆纵轴的长度相同。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其中，所述判断该像素点是否属于所述目标处理区域的步骤具体包括：

判断该像素点与所述目标圆心之间的距离是否大于所述目标横轴的长度；若否，确定该像素点属于所述目标处理区域。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述椭圆横轴的长度为所述目标横轴的长度的第一预设倍数，和/或所述椭圆纵轴的长度为所述目标纵轴的长度的第二预设倍数；其中，所述第一预设倍数和/或第二预设倍数不小于1。