[发明专利]一种用于OLED显示面板的测试装置及测试方法有效
申请号: | 201810230778.X | 申请日: | 2018-03-20 |
公开(公告)号: | CN108597425B | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 吕林鸿 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 潘中毅;熊贤卿 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 oled 显示 面板 测试 装置 方法 | ||
本发明提供一种用于OLED显示面板的测试装置及方法,装置包括:测试信号供给衬垫区、信号供给装置、一对第一对位衬垫、一对第二对位衬垫;一对第一对位衬垫之间相互连接或者均接入零电位;第一对位衬垫作为测试信号接收衬垫区的对位标记;第二对位衬垫作为测试信号供给衬垫区的对位标记;测试信号供给衬垫在与测试信号接收衬垫对齐贴合时,将测试信号输送至测试信号接收衬垫;信号供给装置在将多个测试信号供给衬垫与多个测试信号接收衬垫进行对齐贴合时,判断一对第二对位衬垫处是否均感应到固定电容或阻抗,若是,则输出测试信号至所述多个测试信号供给衬垫。本发明可以实现测试信号供给衬垫与OLED显示面板中测试信号接收衬垫的精准对位。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种用于OLED显示面板的测试装置及测试方法。
背景技术
AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode,有源矩阵有机发光二极体)具有宽广的色域、高的对比度、节能且可折叠等优点,目前在新一代显示器中最具竞争力的技术之一;为保证OLED(organic light emitting diode,有机发光二极体)/LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示器)面板的良率,不可避免的在生产过程中插入很多个测试环节,CT(Cell Test,成盒测试)点灯测试就是其最重要的环节之一。
CT点灯通常会设置CT测试Pad(衬垫)专供显示面板内部信号的输送,一种常规的测试Pad供给方式为FPC(Flexible Printed Circuit,柔性电路板)通过“软压”在显示面板的测试Pad上的方法直接供给信号(在此之前多数用探针挤压供给信号);无论是探针挤压还是FPC直接挤压,均会遇到对位不准确导致画面显示异常的现象;目前常用的对位方式采用的是光学对位,通过CCD(电荷耦合器件)镜头将FPC以及CT Pad放大,在Pad两侧做“对位标记”,从而实现对位。如图1所示,显示面板上会有多个测试Pad 03’,可以分为左侧测试Pad区域01’和右侧测试Pad区域02’,04’为光学对位的对位标记,图2和图3中的05’为无机膜层,06’为有机膜层。但是在通过光学对位时,通过人眼去观测CCD镜头放大的CT Pad,有时候会因为人眼观测的误差,造成对位不精准。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供一种用于OLED显示面板的测试装置及测试方法,可以实现测试信号供给衬垫与OLED显示面板中测试信号接收衬垫的精准对位。
本发明提供的一种用于OLED显示面板的测试装置,包括:测试信号供给衬垫区、信号供给装置、一对第一对位衬垫、一对第二对位衬垫;其中,所述第一对位衬垫与所述第二对位衬垫均导电,且所述一对第一对位衬垫之间相互电性连接或者所述一对第一对位衬垫均接入零电位;
所述一对第一对位衬垫分别位于OLED显示面板上的测试信号接收衬垫区两侧,且作为所述测试信号接收衬垫区的对位标记;
所述一对第二对位衬垫分别位于所述测试信号供给衬垫区的两侧,且作为所述测试信号供给衬垫区的对位标记;
所述测试信号供给衬垫区包括多个测试信号供给衬垫,所述测试信号接收衬垫区包括多个测试信号接收衬垫,所述测试信号供给衬垫在与对应的测试信号接收衬垫对齐贴合时,将测试信号输送至对应的测试信号接收衬垫;
所述信号供给装置,与所述多个测试信号供给衬垫以及所述一对第二对位衬垫电性连接,用于在将所述多个测试信号供给衬垫与所述多个测试信号接收衬垫进行对齐贴合时,判断所述一对第二对位衬垫处是否均感应到固定电容或阻抗,若是,则输出测试信号至所述多个测试信号供给衬垫。
优选地,所述多个测试信号供给衬垫的形状及大小均相同且等间距排布,所述多个测试信号接收衬垫的形状及大小均相同且等间距排布;
其中,所述测试信号供给衬垫与所述测试信号接收衬垫的形状及大小相同,相邻两个测试信号供给衬垫之间的间距与相邻两个测试信号接收衬垫之间的间距相同。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电半导体显示技术有限公司,未经武汉华星光电半导体显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810230778.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。