[发明专利]高频导波检测储罐底板方法

权利要求书

1.高频导波检测储罐底板方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、将待检测的储罐底板拼板的工程图导入到软件内，获得各拼板的信息；

S2、确定检测储罐底板的扫描参数，计算储罐底板所需检测点分布值；

S3、根据检测点分布值生成检测点分布图和坐标矩阵，高频导波传感器移动到各检测点，然后以各检测点为圆心，在垂直于底板的方向以设定速度旋转水平扫描储罐底板；

步骤S1中获得各拼板的分布信息，包括如下步骤：

S11、将n块拼板进行编号，获得编号矩阵k_n为第n块拼板的坐标点数，n块拼板中心坐标的矩阵为其中C_nbx、C_nby分别为第n块拼板中心的x、y坐标；

获得各拼板的中心坐标C_b，n块拼板j个顶点的坐标矩阵为C_nrxj、C_nryj分别为第n块拼板顶点j的x坐标、y坐标；

获得各拼板设定数量顶点构成的坐标矩阵C_r；

形成拼板坐标矩阵C＝[K,C_b,C_r]；

获得各拼板的板型，不同的板型构成板型矩阵T；

S12、构造各拼板的面积函数，表示为S＝F1(C,T)。

2.根据权利要求1所述的高频导波检测储罐底板方法，其特征在于，步骤S2的具体步骤如下：

S21、设定高频导波传感器单次检测的基本参数，包括水平扫描半径R和单次检测覆盖冗余值M；

S22、根据设定的基本参数生成检测点分布值；

S23、根据各拼板边缘线性函数，判断对应拼板上的检测点分布值是否满足设定的标准，如果不满足，调整检测点分布值或调整覆盖冗余值M并生成新的检测点分布值；

S24、循环步骤S23，直至检测点分布值满足标准，导入储罐附加结构的约束条件；

S25、储罐附加结构的约束条件根据拼板坐标矩阵进行分割，并入到各拼板的参数中，确定并入参数后的拼板检测点分布值；

S26、确定设置有储罐附加结构的拼板约束条件，判断步骤S25中的检测点分布值是否满足约束条件，如果不满足，对检测点实行检测点偏移校正，形成新的检测点分布值；

S27、循环步骤S26，直至检测点分布值满足约束条件。

3.根据权利要求2所述的高频导波检测储罐底板方法，其特征在于，在步骤S21中，单次检测的有效面积为高频导波传感器从一个检测点移动到下一个检测点的步进距离为

在步骤S23中，调整覆盖冗余值M的具体步骤如下：

S231、获得覆盖冗余值修正值；

S232、构造修正备选向量CAL＝[max(C_nrx),max(C_nry)]；

S233、获得优化后的覆盖冗余值

S234、根据优化后的覆盖冗余值确定储罐底板所需的检测点个数A，A的取值范围为

S235、确定各检测点位置，高频导波传感器对每块拼板进行行扫描，与行扫描移动方向平行的板边缘线性函数为y＝f₂(x)，则扫描到第q行时每次扫描形成的图元满足下列标准，该标准为

如果在迭代计算时，按行调整单次检测的基本图元参数R和M，那么第q行迭代图元的判断准则可调整为下式

计算出符合上述公式中对应的i值，计算i值对应的边缘线型板边缘线形函数为y＝f₂(x)中多对x、y坐标，即获得每一行图元中各检测点坐标。

4.根据权利要求2所述的高频导波检测储罐底板方法，其特征在于，步骤S24-S27中的约束条件包括线类约束和点类约束，所述线类约束用函数y＝f₃(x)表示，点类约束用坐标矩阵P表示，约束距离参数用L表示，设经过拼板覆盖迭代后得到的检测图元位置结果为坐标矩阵U_x和U_y，其中U_x为x坐标矩阵，U_y为y坐标矩阵，那么约束条件通过下式来影响检测图元位置迭代结果；

f₃(U_xij)-L≤U_yij≤f₃(U_xij)+L；

满足上式条件时，U_yij由(f₃(U_xij)-L)和(f₃(U_xij)+L替代。