[发明专利]一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法及装置

权利要求书

1.一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法，其特征在于，过程如下：

对若干个硬盘进行模态测试，统计所有硬盘的共振频率，通过所有共振频率确定批量加速退化试验的振动扫频范围；采用振动对若干硬盘进行加速退化摸底试验，统计所有硬盘加速退化所对应的振动幅值，通过所有振动幅值确定批量加速退化试验的振动幅值；

在振动扫频范围和振动幅值条件下，对多个硬盘同时进行振动，振动过程中，集群式的实时同步采集和记录所有硬盘的S.M.A.R.T.参数数据；

当某一硬盘的S.M.A.R.T.参数数据中的缺陷生长列表值达到规定的阈值时，则判定该硬盘发生失效；当某一硬盘发生失效后，停止采集该硬盘的S.M.A.R.T.参数数据，直至所有硬盘发生失效。

2.根据权利要求1所述的一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法，其特征在于，硬盘模态测试的过程如下：

将硬盘固定在振动台上，以扫频模式对硬盘施加振动，同时用多普勒激光测振仪记录硬盘Motor Base的频响曲线及振型，通过对比硬盘Motor Base各阶振型，确定硬盘MotorBase一阶固有频率；

统计各硬盘Motor Base一阶固有频率，并确定批量加速退化试验中的振动频率，并根据振动频率划定振动扫频范围。

3.根据权利要求1所述的一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法，其特征在于，采用振动对若干硬盘进行加速退化摸底试验，统计所有硬盘加速退化所对应的振动幅值，通过所有振动幅值确定批量加速退化试验的振动幅值的过程如下：

将硬盘固定在振动台上，在振动台扫频模式下，逐步调高振动应力幅值，记录各振动应力值作用期间硬盘的S.M.A.R.T.参数数据并求得各振动应力值作用下硬盘的S.M.A.R.T.参数变化率；

再比较各振动应力值作用下硬盘的S.M.A.R.T.参数变化率，并根据硬盘的S.M.A.R.T.参数变化率对振动幅值划分振动试验应力等级水平，每个应力等级水平对应一个振动幅值；

再根据硬盘的S.M.A.R.T.参数变化率和试验周期时长要求选取振动试验应力等级水平，并以该应力等级水平对应的振动幅值作为对多个硬盘同时进行加速退化试验的振动幅值。

4.根据权利要求3所述的一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法，其特征在于，应力等级水平划分为3个，分别为低应力等级水平、中应力等级水平和高应力等级水平，低应力等级水平、中应力等级水平和高应力等级水平对应的振动幅值分别为0.2g、0.3g和0.5g。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法，其特征在于，振动应力的施加方式为恒定应力施加方式、步进应力施加方式和循环应力施加方式中的一种或几种的组合。

6.根据权利要求1-4任意一项所述的一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法，其特征在于，集群式的实时同步采集和记录所有硬盘的S.M.A.R.T.参数数据包括：02_0000无延迟校正写错误计数；02_0001延迟校正写错误计数；02_0002累计写错误；02_0003累计校正写错误；02_0004累计算法校正写错误；02_0005累计写字节数；02_0006累计不可校正写错误；03_0000无延迟校正读错误计数；03_0001延迟校正读错误计数；03_0002累计读错误；03_0003累计校正读错误；03_0004累计算法校正读错误；03_0005累计读字节数；03_0006累计不可校正读错误；04_0000无延迟校正逆向读错误计数；04_0001延迟校正逆向读错误计数；04_0002累计逆向读错误；04_0003累计校正逆向读错误；04_0004累计算法校正逆向读错误；04_0005累计逆向读字节数；04_0006累计不可校正逆向读错误。