[发明专利]一种提高荧光强度比技术测温精度的方法

权利要求书

1.一种提高荧光强度比技术测温精度的方法，其特征在于是按以下步骤进行：

一、制备稀土离子掺杂的感温材料，得到测温样品；二、将测温的温度区间均匀分成n份，然后将测温样品放入冷热台，在每个温度区间内、激发光源下，对不同温度下稀土离子所产生的荧光带的强度进行积分，其中荧光带是由任意一对具有热耦合关系的能级到下能级辐射跃迁所产生的；然后对两个荧光带的积分强度进行比值，再利用玻尔兹曼热统计分布理论对荧光强度比值和温度之间的关系进行拟合，每个温度区间均得到一个拟合函数；其中n≥4；三、将测温样品放置于待测环境，计算在待测环境下步骤二中两个荧光带的积分强度比值，根据步骤二的拟合函数的取值范围，选择适合的拟合函数，然后将两个荧光带的积分强度比值代入该拟合函数，即可得到待测环境的温度。

2.根据权利要求1所述的一种提高荧光强度比技术测温精度的方法，其特征在于步骤一所述的稀土离子掺杂的感温材料为具有热耦合能级对的稀土离子掺杂的且能够被980nm近红外激光二极管激发的荧光材料。

3.根据权利要求1或2所述的一种提高荧光强度比技术测温精度的方法，其特征在于步骤一所述的稀土离子掺杂的感温材料为掺杂Er³⁺离子的钨酸钙。

4.根据权利要求1所述的一种提高荧光强度比技术测温精度的方法，其特征在于步骤二所述的温度区间为10-1000k。

5.根据权利要求1所述的一种提高荧光强度比技术测温精度的方法，其特征在于步骤二中激发光源为980nm近红外激光二极管。

6.根据权利要求1所述的一种提高荧光强度比技术测温精度的方法，其特征在于步骤二中在每个温度区间内改变温度的温度间隔为20k。