[发明专利]去除脑电信号中眼电伪迹的方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种去除脑电信号中眼电伪迹的方法，其特征在于，所述方法包括：

对采集的多通道脑电信号进行独立分量分解，得到多个独立分量；

对所述多个独立分量进行去噪处理；

计算去噪后的多个独立分量的样本熵；

根据每个独立分量的样本熵，确定脑电独立分量和含有眼电伪迹的独立分量；

对含有眼电伪迹的独立分量，去除眼电伪迹；

将去除眼电伪迹的独立分量和脑电独立分量进行重构，得到去除眼电伪迹的脑电信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

对所述多个独立分量分别进行傅里叶变换，得到所述多个独立分量的幅度谱和相位谱。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对采集的多通道脑电信号进行独立分量分解，得到多个独立分量，包括：

对采集的多通道脑电信号进行去均值处理及白化处理，得到多个处理后的观测向量；

根据每个处理后的观测向量，求解对应的分离向量，并在求解到至少两个分离向量时，对求解到的分离向量进行去相关处理；

将去相关处理后的分离向量组成分离矩阵；

根据所述分离矩阵、所述观测向量和所述去均值处理中的均值，得到多个独立分量。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述多个独立分量进行去噪处理，包括：

根据工频干扰和各次谐波的性质，通过Z变换，设计数字陷波器；

利用所述数字陷波器分别对所述多个独立分量进行滤波，以去除独立分量中的工频干扰及其谐波。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，计算去噪后的多个独立分量的样本熵，包括：

选取去噪后的多个独立分量中的一个独立分量，作为当前独立分量；

从当前独立分量中提取第一二维矢量和第二二维矢量；

计算所述第一二维矢量和第二二维矢量之间的距离；

针对当前独立分量中的每一个采样点，统计第一二维矢量和第二二维矢量之间的距离小于统计阈值的数目，计算该数目与第一二维矢量和第二二维矢量的总的距离数的比值，作为第一比值；

计算所述第一比值的均值，作为第一均值；

从当前独立分量中提取第一三维矢量和第二三维矢量；

计算所述第一三维矢量和第二三维矢量之间的距离；

针对当前独立分量中的每一个采样点，统计第一三维矢量和第二三维矢量之间的距离小于所述统计阈值的数目，计算该数目与第一三维矢量和第二三维矢量的总的距离数的比值，作为第二比值；

计算所述第二比值的均值，作为第二均值；

根据所述第一均值和所述第二均值，计算当前独立分量的样本熵；

重复执行上述步骤，直至得到所有独立分量的样本熵。

6.一种去除脑电信号中眼电伪迹的装置，其特征在于，所述装置包括：

独立分量分解模块，用于对采集的多通道脑电信号进行独立分量分解，得到多个独立分量；

去噪模块，用于对所述多个独立分量进行去噪处理；

样本熵计算模块，用于计算去噪后的多个独立分量的样本熵；

眼电伪迹确定模块，用于根据每个独立分量的样本熵，确定脑电独立分量和含有眼电伪迹的独立分量；

眼电伪迹去除模块，用于对含有眼电伪迹的独立分量，去除眼电伪迹；

重构模块，用于将去除眼电伪迹的独立分量和脑电独立分量进行重构，得到去除眼电伪迹的脑电信号。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：

傅里叶变换模块，用于对所述多个独立分量分别进行傅里叶变换，得到所述多个独立分量的幅度谱和相位谱。