[发明专利]用于执行校准的校准电路和方法

权利要求书

1.一种校准电路，包括：

包括电池组负端子的电池组；以及

中间节点；

耦接到第一晶体管的第一保护IC，其中所述第一晶体管耦接在所述电池组负端子与所述中间节点之间；

第二保护IC，所述第二保护IC与所述第一保护IC并联耦接并且耦接到第二晶体管；

电源，所述电源适于与所述第一保护IC和所述第二保护IC并联耦接；以及

电流源，所述电流源适于耦接在所述电池组负端子与所述中间节点之间；

其中：

所述中间节点定位在所述第一晶体管与所述第二晶体管之间；以及

所述电源被配置成通过第一电流回路将电流提供到所述第一保护IC。

2.根据权利要求1所述的校准电路，其中所述第一电流回路包括所述第二晶体管；并且其中所述第二晶体管被配置成在所述第一电流回路与被配置成旁通所述第二晶体管的第二电流回路之间进行选择。

3.根据权利要求1所述的校准电路，其中所述第一电流回路被配置成跨所述第一保护IC的第一端子和第二端子产生第一电压，其中所述第一端子和第二端子提供用于校准所述第一保护IC的电压的测试点。

4.根据权利要求1所述的校准电路，其中所述电流源被配置成产生第三电流回路，其中所述第三电流回路流过所述第一晶体管；并且其中所述电流源包括用于限制所述第三电流回路的流动的可选旁通回路。

5.根据权利要求1所述的校准电路，还包括被配置成将测试信号提供到正被校准的所述保护IC的脉冲发生器。

6.一种用于对第一保护IC执行校准的方法，所述第一保护IC与第二保护IC和电源并联耦接，其中所述第一保护IC耦接到第一晶体管并且所述第二保护IC耦接到第二晶体管，所述方法包括：

校准所述第二保护IC；以及

在所述第二保护IC已被校准之后校准所述第一保护IC，包括：

激活所述电源以产生第一电流；

激活所述第二晶体管以使所述第一电流形成通过所述第二晶体管的第一电流回路；以及

利用电流源产生第二电流以形成第二电流回路，其中所述第二电流流过所述第一晶体管。

7.根据权利要求6所述的用于执行校准的方法，其中校准所述第二保护IC包括通过电流校准回路和电压校准回路中的一者选择性地将所述电源耦接到所述第二保护IC。

8.根据权利要求7所述的用于执行校准的方法，其中所述电流校准回路包括耦接在所述电源的负端子与所述第二保护IC的第二端子之间的感测电阻器，其中所述电源的正端子耦接到所述第二保护IC的第一端子。

9.根据权利要求6所述的用于执行校准的方法，其中校准所述第二保护IC包括选择性地将所述电流源耦接到旁通回路，其中所述旁通回路旁通所述第二保护IC。

10.根据权利要求9所述的用于执行校准的方法，其中校准所述第一保护IC包括在所述电流源耦接到所述旁通回路时，从耦接到所述第一保护IC的脉冲发生器施加测试信号。