[发明专利]上电断电测试器

说明书

本发明提供了一种上电断电测试器，包括MCU芯片、按键模块、天线、电源模块、继电器模块、数码管显示模块；所述MCU芯片的输入端分别接天线和按键模块，所述MCU芯片的输出端分别接继电器模块的输入端和数码管显示模块的输入端，所述MCU芯片的电源端接电源模块，所述继电器模块的输出端与被测试设备的电源端连接。本发明通过天线、MCU芯片、继电器模块来控制被测试设备的随机上电断电情况，通过按键模块、MCU芯片、继电器模块来控制被测试设备的定时上电断电情况，能够给被测试设备在上电断电方面得到全方位的测试环境。

技术领域

本发明涉及测试器技术领域，更具体的说，涉及一种用于电子产品的上电断电测试器。

背景技术

在现有技术中，由于很多被测电子产品内部电路中都包含有电容，而电容大小不相同，导致产品在断电后部分电容放电时间不确定，而电容的放电延迟导致定时上下电会掩盖一些电路上的缺陷问题，无法发现电路存在的隐患。当前电子产品的上电及断电测试器存在着由于电容放电时间不确定而导致产品不能及时发现隐患的技术缺陷，成为本领域技术人员急待解决的技术问题。

发明内容

本发明的技术目的是克服现有技术中，当前电子产品的上电断电测试器存在着固定开关时间而造成不能全面测试出电路隐患的技术问题；提供一种能够随机或定时上电断电，给被测试设备在上电断电方面得到全方位的测试的一种上电断电测试器。

为实现以上技术目的，本发明的技术方案是：一种上电断电测试器，包括MCU芯片、按键模块、天线、电源模块、继电器模块、数码管显示模块；所述MCU芯片的输入端分别接天线和按键模块，所述MCU芯片的输出端分别接继电器模块的输入端和数码管显示模块的输入端，所述MCU芯片的电源端接电源模块，所述继电器模块的输出端与被测试设备的电源端连接；

所述继电器模块包括继电器、三极管、第一电阻、第二电阻，所述继电器的第一输入端接三极管的集电极，其第二输入端接地，其第一输出端与被测试设备的电源端连接，其第二输出端连接被测试设备的供电电源，所述三极管的发射极接第一电阻的一端，其基极接第二电阻的一端，所述第一电阻的另一端接电源电压，所述第二电阻的另一端为继电器模块的输入端且与MCU芯片的输出端连接。

进一步的，所述电源模块包括电源接口、变压芯片、第一电容-第三电容、第三电阻、第四电阻，所述电源接口的一端为电源输入端且接电源电压，其还与所述变压芯片的输入端、第一电容的一端、第二电容的一端连接，所述电源接口的另一端接地，所述变压芯片的接地端和输出端之间接第四电阻，所述变压芯片的接地端还与第三电阻的一端连接，所述变压芯片的输出端为电源模块的输出端且与MCU芯片的电源端连接，所述变压芯片的输出端还接第三电容的一端，所述第一电容、第二电容、第三电容的另一端都接地，所述第三电阻的另一端也接地。

进一步的，所述按键模块选用至少2个按键。

进一步的，所述数码管显示模块选用5位数码管显示器。

进一步的，所述MCU芯片选用STM8L151型号。

进一步的，所述MCU芯片内部集成定时器、EEP ROM。

本发明的上电断电测试器，具有以下有益效果：

1、本发明通过天线、MCU芯片、继电器模块来控制被测试设备的随机上电断电情况，通过按键模块、MCU芯片、继电器模块来控制被测试设备的定时上电断电情况，进而给被测试设备在上电断电方面得到全方位的测试环境，通过观察被测试设备内的所有电容的放电时间；从而得到被测试设备整体的放电时间，避免由于电容的放电延迟导致定时上下电会掩盖一些电路上的缺陷问题，无法发现电路存在的隐患。