[发明专利]光电阴极及X射线诊断系统在审

专利信息
申请号: 201810246577.9 申请日: 2018-03-23
公开(公告)号: CN108281337A 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 王瑜英;曹柱荣;高聪;徐习斌;高扬;王雪敏;王建军;景峰 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: H01J1/34 分类号: H01J1/34
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 王文红
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 多层反射膜 光电阴极 入射 光电子 反射 环境适应性 纳米结构 基底 射出 光源 诊断
【说明书】:

发明实施例提供一种光电阴极及X射线诊断系统。光电阴极包括X射线多层反射膜及设置在X射线多层反射膜表面上的金。X射线多层反射膜作为光电阴极的基底,金为纳米结构。X射线多层反射膜用于将入射至X射线多层反射膜表面上的X射线进行反射。金用于在X射线入射至金的表面后产生光电子,以进行X射线的诊断。其中,入射至金的表面的X射线包括光源直接射出的X射线及X射线多层反射膜反射的X射线。所述光电阴极的光电子产额高,稳定性好且环境适应性强。

技术领域

本发明涉及光电探测技术领域,具体而言,涉及一种光电阴极及X射线诊断系统。

背景技术

目前,X射线条纹相机中使用的光电阴极主要是采用碳氢(CH)膜或微通道板(Microchannel Plate,MCP)作为基底,基底上设置有金属薄膜。利用上述设置的光电阴极进行X射线的探测。但是,金属薄膜材料厚度通常小于1μm,量子产额低,不利于X射线的高精度、高分辨率(时间、空间)诊断。

发明内容

为了克服现有技术中的上述不足,本发明实施例的目的在于提供一种光电阴极及X射线诊断系统,该光电阴极包括X射线多层反射膜及设置在所述X射线多层反射膜表面上的纳米结构的金,具有光电子产额高、稳定性好及环境适应性强等特点。

第一方面,本发明实施例提供一种光电阴极,所述光电阴极包括X射线多层反射膜及设置在所述X射线多层反射膜表面上的金,

所述X射线多层反射膜作为所述光电阴极的基底,所述金为纳米结构;

所述X射线多层反射膜用于将入射至所述X射线多层反射膜表面上的X射线进行反射;

所述金用于在X射线入射至所述金的表面后产生光电子,以进行X射线的诊断,其中,入射至所述金的表面的X射线包括光源直接射出的X射线及所述X射线多层反射膜反射的X射线。

进一步地,结合上述第一方面提供的实施例,所述纳米结构包括纳米颗粒、纳米球壳中任一种及其组合。

进一步地,结合上述第一方面提供的实施例,所述金均匀设置在所述X射线多层反射膜表面。

进一步地,结合上述第一方面提供的实施例,所述金通过涂覆、沉积或化学方法中任一种方式设置在所述X射线多层反射膜表面。

进一步地,结合上述第一方面提供的实施例,所述X射线多层反射膜用于反射预设波长范围内的X射线。

第二方面,本发明实施例还提供一种X射线诊断系统,所述系统包括光源及条纹相机,所述条纹相机包括光电阴极,

所述光源用于发射X射线;

所述光电阴极包括X射线多层反射膜及设置在所述X射线多层反射膜表面上的金,

所述X射线多层反射膜作为所述光电阴极的基底,所述金为纳米结构;

所述X射线多层反射膜用于将入射至所述X射线多层反射膜表面上的X射线进行反射;

所述金用于在X射线入射至所述金的表面后产生光电子,以进行X射线的诊断,其中,入射至所述金的表面的X射线包括光源直接射出的X射线及所述X射线多层反射膜反射的X射线;

所述条纹相机用于对所述光电阴极在被X射线穿透后产生的光电子进行分析,实现对X射线的诊断。

进一步地,结合上述第二方面提供的实施例,所述纳米结构包括纳米颗粒、纳米球壳中任一种及其组合。

进一步地,结合上述第二方面提供的实施例,所述金均匀设置在所述X射线多层反射膜表面。

进一步地,结合上述第二方面提供的实施例,所述金通过涂覆、沉积或化学方法中任一种方式设置在所述X射线多层反射膜表面。

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